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XPS characterisation of in situ treated lanthanum oxide and hydroxide using tailored charge referencing and peak fitting procedures
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XPS characterisation of in situ treated lanthanum oxide and hydroxide using tailored charge referencing and peak fitting procedures

Sunding, M.F. ; Hadidi, K. ; Diplas, S. ; Løvvik, O.M. ; Norby, T.E. ; Gunnæs, A.E.

Journal of electron spectroscopy and related phenomena, 2011-07, Vol.184 (7), p.399-409 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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2
Increased reactivity and in vitro cell response of titanium based implant surfaces after anodic oxidation
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Increased reactivity and in vitro cell response of titanium based implant surfaces after anodic oxidation

Walter, M. S. ; Frank, M. J. ; Sunding, M. F. ; Gómez-Florit, M. ; Monjo, M. ; Bucko, M. M. ; Pamula, E. ; Lyngstadaas, S. P. ; Haugen, H. J.

Journal of materials science. Materials in medicine, 2013-12, Vol.24 (12), p.2761-2773 [Periódico revisado por pares]

Boston: Springer US

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3
Magnesium metallic interlayer as an oxygen-diffusion-barrier between high-κ dielectric thin films and silicon substrate
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Magnesium metallic interlayer as an oxygen-diffusion-barrier between high-κ dielectric thin films and silicon substrate

Rauwel, E. ; Rauwel, P. ; Ducroquet, F. ; Sunding, M.F. ; Matko, I. ; Lourenço, A.C.

Thin solid films, 2012-06, Vol.520 (17), p.5602-5609 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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4
One step synthesis of pure cubic and monoclinic HfO2 nanoparticles: Correlating the structure to the electronic properties of the two polymorphs
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One step synthesis of pure cubic and monoclinic HfO2 nanoparticles: Correlating the structure to the electronic properties of the two polymorphs

Rauwel, P. ; Rauwel, E. ; Persson, C. ; Sunding, M. F. ; Galeckas, A.

Journal of applied physics, 2012-11, Vol.112 (10) [Periódico revisado por pares]

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5
Controlling the Electrical Properties of Reactively Sputtered High Entropy Alloy CrFeNiCoCu Films
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Controlling the Electrical Properties of Reactively Sputtered High Entropy Alloy CrFeNiCoCu Films

Mayandi, J. ; Finstad, T. G. ; Stange, M. ; Vásque, G. C. ; Sunding, M. F. ; Løvvik, O. M. ; Diplas, S. ; Carvalho, P. A.

Journal of electronic materials, 2022-02, Vol.51 (2), p.803-812 [Periódico revisado por pares]

New York: Springer US

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6
Impact of oxygen bonding on the atomic structure and photoluminescence properties of Si-rich silicon nitride thin films
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Impact of oxygen bonding on the atomic structure and photoluminescence properties of Si-rich silicon nitride thin films

Nguyen, P. D. ; Kepaptsoglou, D. M. ; Ramasse, Q. M. ; Sunding, M. F. ; Vestland, L. O. ; Finstad, T. G. ; Olsen, A.

Journal of applied physics, 2012-10, Vol.112 (7) [Periódico revisado por pares]

United States

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7
Reference data set of volcanic ash physicochemical and optical properties
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Reference data set of volcanic ash physicochemical and optical properties

Vogel, A. ; Diplas, S. ; Durant, A. J. ; Azar, A. S. ; Sunding, M. F. ; Rose, W. I. ; Sytchkova, A. ; Bonadonna, C. ; Krüger, K. ; Stohl, A.

Journal of geophysical research. Atmospheres, 2017-09, Vol.122 (17), p.9485-9514 [Periódico revisado por pares]

Washington: Blackwell Publishing Ltd

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8
Heterogeneous nucleation and growth of CrSi2 in sputtered thin films of silicon/silicon nitride
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Heterogeneous nucleation and growth of CrSi2 in sputtered thin films of silicon/silicon nitride

Nguyen, P.D. ; Gunnæs, A.E. ; Sunding, M.F. ; Olsen, A.

Thin solid films, 2014-04, Vol.556, p.200-205 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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9
XPS characterisation of the interface between anode and electrolyte in a proton conducting solid oxide fuel cell
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XPS characterisation of the interface between anode and electrolyte in a proton conducting solid oxide fuel cell

Sunding, M. F. ; Kepaptsoglou, D. M. ; Diplas, S. ; Norby, T. ; Gunnæs, A. E.

Surface and interface analysis, 2010-06, Vol.42 (6-7), p.568-571 [Periódico revisado por pares]

Chichester, UK: John Wiley & Sons, Ltd

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10
Composition and structure of Pd nanoclusters in SiO x thin film
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Composition and structure of Pd nanoclusters in SiO x thin film

Thøgersen, A ; Mayandi, J ; Vines, L ; Sunding, M F ; Olsen, A ; Diplas, S ; Mitome, M ; Bando, Y

Journal of applied physics, 2011-04, Vol.109 (8), p.084329-084329-6 [Periódico revisado por pares]

American Institute of Physics

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