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Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits
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Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits

Leblebici Sung-Mo (Steve) Kang; Yusuf Leblebici; Sung-Mo (Steve) Sung-Mo (Steve) Kang

Springer US 1993

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

2
Physical Design for Multichip Modules
Physical Design for Multichip Modules
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Physical Design for Multichip Modules

Sriram S. M Kang; Sung-Mo (Steve) Sung-Mo (Steve) Kang

Springer US 1994

Acesso online

3
Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits
Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Modeling of Electrical Overstress in Integrated Circuits

Díaz Charvaka Duvvury; Sung-Mo Kang; Sung-Mo (Steve) Sung-Mo (Steve) Kang

Springer US 1995

Acesso online

4
Design Automation for Timing-Driven Layout Synthesis
Design Automation for Timing-Driven Layout Synthesis
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Design Automation for Timing-Driven Layout Synthesis

Sapatnekar Sung-Mo Kang; Sachin S Sapatnekar; Sung-Mo (Steve) Sung-Mo (Steve) Kang

Springer US 1993

Acesso online

5
CMOS digital integrated circuits analysis and design
CMOS digital integrated circuits analysis and design
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

CMOS digital integrated circuits analysis and design

Sung-Mo Kang 1945- Yusuf Leblebici

New York McGraw-Hill c1996

Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval    (621.3.049.774 K131c )(Acessar)

6
CMOS digital integrated circuits analysis and design
CMOS digital integrated circuits analysis and design
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

CMOS digital integrated circuits analysis and design

Sung-Mo Kang 1945- Yusuf Leblebici

Boston McGraw-Hill c2003

Localização: IF - Instituto de Física    (621.395 K16c 3.ed. ) e outros locais(Acessar)

7
Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Electrothermal Analysis of VLSI Systems

Yi-Kan Cheng Yi-Kan Cheng; Sung-Mo Kang; Chin-Chi Teng; Ching-Han Tsai Chin-Chi Teng; Chin-Chi Chin-Chi Teng Ching-Han Tsai; Ching-Han Ching-Han Tsai; Sung-Mo (Steve) Sung-Mo (Steve) Kang

Dordrecht Springer US 2002

Acesso online

8
Memristor-based ternary content addressable memory (mTCAM) for data-intensive computing
Memristor-based ternary content addressable memory (mTCAM) for data-intensive computing
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Memristor-based ternary content addressable memory (mTCAM) for data-intensive computing

Zheng, Le ; Shin, Sangho ; Steve Kang, Sung-Mo

Semiconductor science and technology, 2014-10, Vol.29 (10), p.104010 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
Memristor MOS Content Addressable Memory (MCAM): Hybrid Architecture for Future High Performance Search Engines
Memristor MOS Content Addressable Memory (MCAM): Hybrid Architecture for Future High Performance Search Engines
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Memristor MOS Content Addressable Memory (MCAM): Hybrid Architecture for Future High Performance Search Engines

Eshraghian, Kamran ; Kyoung-Rok Cho ; Kavehei, Omid ; Soon-Ku Kang ; Abbott, Derek ; Sung-Mo Steve Kang

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2011-08, Vol.19 (8), p.1407-1417 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
System-Theoretic Methods for Designing Bio-Inspired Mem-Computing Memristor Cellular Nonlinear Networks
System-Theoretic Methods for Designing Bio-Inspired Mem-Computing Memristor Cellular Nonlinear Networks
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

System-Theoretic Methods for Designing Bio-Inspired Mem-Computing Memristor Cellular Nonlinear Networks

Ascoli, Alon ; Tetzlaff, Ronald ; Kang, Sung-Mo Steve ; Chua, Leon

Frontiers in nanotechnology, 2021-05, Vol.3 [Periódico revisado por pares]

Frontiers Media S.A

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