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1
Spectrochemical analysis by X-ray fluorescence
Spectrochemical analysis by X-ray fluorescence
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Spectrochemical analysis by X-ray fluorescence

Rudolf Olimpio Müller

New York Plenum Press 1972

Localização: EEL - Engenharia de Materiais    (535.33 M958s ex.2 ) e outros locais(Acessar)

2
Principles and practice of X-ray spectrometric analysis
Principles and practice of X-ray spectrometric analysis
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Principles and practice of X-ray spectrometric analysis

Eugene P. Bertin 1921-

New York Plenum Press 1975

Localização: EEL - Engenharia de Materiais    (543'.085 B544p 2 ed. ) e outros locais(Acessar)

3
Formação e caracterização de filmes de nitreto de silício por deposição química assistida por plasma acoplado indutivamente
Formação e caracterização de filmes de nitreto de silício por deposição química assistida por plasma acoplado indutivamente
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Formação e caracterização de filmes de nitreto de silício por deposição química assistida por plasma acoplado indutivamente

Mamani, Wilmer Alexe Sucasaire

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2002-09-03

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

4
Handbook of X-ray spectrometry
Handbook of X-ray spectrometry
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Handbook of X-ray spectrometry

R. van Grieken (René); Andrzej Markowicz

New York Marcel Dekker c2002

Localização: IF - Instituto de Física    (543.08586 G848h 2.ed ) e outros locais(Acessar)

5
Caracterização de filmes finos de nitreto de carbono produzidos por RF magnetron sputtering reativo
Caracterização de filmes finos de nitreto de carbono produzidos por RF magnetron sputtering reativo
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Caracterização de filmes finos de nitreto de carbono produzidos por RF magnetron sputtering reativo

Pinto, Ricardo Alexander Castro

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2002-10-18

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

6
Estrutura de microlâmpadas energizadas em escala micrométrica
Estrutura de microlâmpadas energizadas em escala micrométrica
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estrutura de microlâmpadas energizadas em escala micrométrica

Cassimiro, Vinicius Roberto De Sylos

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2020-12-14

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

7
Quantitative x-ray spectrometry
Quantitative x-ray spectrometry
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Quantitative x-ray spectrometry

Ron Jenkins 1932- Robert William Gould; Dale Gedcke 1939-

New York M. Dekker c1995

Localização: CENA - Cent. En. Nuclear na Agricultura    (543.42 J52q 2 ed 9502 ) e outros locais(Acessar)

8
A practical guide for the preparation of specimens for x-ray fluorescence and x-ray diffraction analysis
A practical guide for the preparation of specimens for x-ray fluorescence and x-ray diffraction analysis
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

A practical guide for the preparation of specimens for x-ray fluorescence and x-ray diffraction analysis

Victor E Buhrke; Ron Jenkins 1932-; Deane K Smith (Deane Kingsley)

New York Wiley-VCH c1998

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (548.83 B931p ) e outros locais(Acessar)

9
Electron beam x-ray microanalysis
Electron beam x-ray microanalysis
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

Electron beam x-ray microanalysis

Kurt F. J. Heinrich

New York Van Nostrand Reinhold Co. c1981

Localização: IF - Instituto de Física    (543.0812 H468e )(Acessar)

10
X-ray absorption
X-ray absorption
Material Type:
Livro 		Adicionar ao Meu Espaço

X-ray absorption

D. C Koningsberger; Roelof Prins

S.l. Wiley c1988

Localização: CQ - Conjunto das Químicas    (543.08586 X4 ) e outros locais(Acessar)

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