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Empirical Validation of Three Software Metrics Suites to Predict Fault-Proneness of Object-Oriented Classes Developed Using Highly Iterative or Agile Software Development Processes
Empirical Validation of Three Software Metrics Suites to Predict Fault-Proneness of Object-Oriented Classes Developed Using Highly Iterative or Agile Software Development Processes
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Empirical Validation of Three Software Metrics Suites to Predict Fault-Proneness of Object-Oriented Classes Developed Using Highly Iterative or Agile Software Development Processes

Olague, H.M. ; Etzkorn, L.H. ; Gholston, S. ; Quattlebaum, S.

IEEE transactions on software engineering, 2007-06, Vol.33 (6), p.402-419 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Empirical Analysis of Object-Oriented Design Metrics for Predicting High and Low Severity Faults
Empirical Analysis of Object-Oriented Design Metrics for Predicting High and Low Severity Faults
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Empirical Analysis of Object-Oriented Design Metrics for Predicting High and Low Severity Faults

Zhou, Yuming ; Leung, Hareton

IEEE transactions on software engineering, 2006-10, Vol.32 (10), p.771-789 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
A hierarchical model for object-oriented design quality assessment
A hierarchical model for object-oriented design quality assessment
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A hierarchical model for object-oriented design quality assessment

Bansiya, J. ; Davis, C.G.

IEEE transactions on software engineering, 2002-01, Vol.28 (1), p.4-17 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Solving the Class Responsibility Assignment Problem in Object-Oriented Analysis with Multi-Objective Genetic Algorithms
Solving the Class Responsibility Assignment Problem in Object-Oriented Analysis with Multi-Objective Genetic Algorithms
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Solving the Class Responsibility Assignment Problem in Object-Oriented Analysis with Multi-Objective Genetic Algorithms

Bowman, Michael ; Briand, Lionel C ; Labiche, Yvan

IEEE transactions on software engineering, 2010-11, Vol.36 (6), p.817-837 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
The problem with threads
The problem with threads
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The problem with threads

Lee, E.A.

Computer (Long Beach, Calif.), 2006-05, Vol.39 (5), p.33-42 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
DeMIMA: A Multilayered Approach for Design Pattern Identification
DeMIMA: A Multilayered Approach for Design Pattern Identification
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DeMIMA: A Multilayered Approach for Design Pattern Identification

Gueheneuc, Y.-G. ; Antoniol, G.

IEEE transactions on software engineering, 2008-09, Vol.34 (5), p.667-684 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
The confounding effect of class size on the validity of object-oriented metrics
The confounding effect of class size on the validity of object-oriented metrics
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The confounding effect of class size on the validity of object-oriented metrics

El Emam, K. ; Benlarbi, S. ; Goel, N. ; Rai, S.N.

IEEE transactions on software engineering, 2001-07, Vol.27 (7), p.630-650 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
A Quantitative Investigation of the Acceptable Risk Levels of Object-Oriented Metrics in Open-Source Systems
A Quantitative Investigation of the Acceptable Risk Levels of Object-Oriented Metrics in Open-Source Systems
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A Quantitative Investigation of the Acceptable Risk Levels of Object-Oriented Metrics in Open-Source Systems

Shatnawi, R.

IEEE transactions on software engineering, 2010-03, Vol.36 (2), p.216-225 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
Parallel Computing Experiences with CUDA
Parallel Computing Experiences with CUDA
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Parallel Computing Experiences with CUDA

Garland, M. ; Le Grand, S. ; Nickolls, J. ; Anderson, J. ; Hardwick, J. ; Morton, S. ; Phillips, E. ; Yao Zhang ; Volkov, V.

IEEE MICRO, 2008-07, Vol.28 (4), p.13-27 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos: IEEE

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10
Measuring the Discriminative Power of Object-Oriented Class Cohesion Metrics
Measuring the Discriminative Power of Object-Oriented Class Cohesion Metrics
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Measuring the Discriminative Power of Object-Oriented Class Cohesion Metrics

Al Dallal, J.

IEEE transactions on software engineering, 2011-11, Vol.37 (6), p.788-804 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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