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Conducting Organic Materials and Devices
Conducting Organic Materials and Devices
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Conducting Organic Materials and Devices

Jain, Suresh C ; Willander, M ; Kumar, V

San Diego: Elsevier Science & Technology 2007

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2
Room-temperature gas sensing of ZnO-based gas sensor: A review
Room-temperature gas sensing of ZnO-based gas sensor: A review
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Room-temperature gas sensing of ZnO-based gas sensor: A review

Zhu, Ling ; Zeng, Wen

Sensors and actuators. A. Physical., 2017-11, Vol.267, p.242-261 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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3
Cobalt-doped cerium oxide nanoparticles: Enhanced photocatalytic activity under UV and visible light irradiation
Cobalt-doped cerium oxide nanoparticles: Enhanced photocatalytic activity under UV and visible light irradiation
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Cobalt-doped cerium oxide nanoparticles: Enhanced photocatalytic activity under UV and visible light irradiation

Saranya, Jayapalan ; Ranjith, Kugalur Shanmugam ; Saravanan, Padmanaban ; Mangalaraj, Devanesan ; Rajendra Kumar, Ramasamy Thangavelu

Materials science in semiconductor processing, 2014-10, Vol.26, p.218-224 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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4
Ni silicide nanowires analysis by atom probe tomography
Ni silicide nanowires analysis by atom probe tomography
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Ni silicide nanowires analysis by atom probe tomography

El Kousseifi, M. ; Panciera, F. ; Hoummada, K. ; Descoins, M. ; Baron, T. ; Mangelinck, D.

Microelectronic engineering, 2014-05, Vol.120, p.47-51 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
Carbon nanotubes for nanoscale low temperature flip chip connections
Carbon nanotubes for nanoscale low temperature flip chip connections
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Carbon nanotubes for nanoscale low temperature flip chip connections

Hermann, Sascha ; Pahl, Barbara ; Ecke, Ramona ; Schulz, Stefan E. ; Gessner, Thomas

Microelectronic engineering, 2010-03, Vol.87 (3), p.438-442 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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6
Bias-temperature stress of Al on porous low- k dielectrics
Bias-temperature stress of Al on porous low- k dielectrics
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Bias-temperature stress of Al on porous low- k dielectrics

He, Ming ; Li, Huafang ; Wang, Pei-I ; Lu, Toh-Ming

Microelectronics and reliability, 2011-08, Vol.51 (8), p.1342-1345 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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7
Polyimide nanostructures fabricated by nanoimprint lithography and its applications
Polyimide nanostructures fabricated by nanoimprint lithography and its applications
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Polyimide nanostructures fabricated by nanoimprint lithography and its applications

Cui, Bo ; Cortot, Yann ; Veres, Teodor

Microelectronic engineering, 2006-04, Vol.83 (4), p.906-909 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
Room temperature nano- and microstructure photon detectors
Room temperature nano- and microstructure photon detectors
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Room temperature nano- and microstructure photon detectors

Perera, A.G.U. ; Jayaweera, P.V.V. ; Ariyawansa, G. ; Matsik, S.G. ; Tennakone, K. ; Buchanan, M. ; Liu, H.C. ; Su, X.H. ; Bhattacharya, P.

Microelectronics, 2009-03, Vol.40 (3), p.507-511 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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9
STI process steps for sub-quarter micron CMOS
STI process steps for sub-quarter micron CMOS
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STI process steps for sub-quarter micron CMOS

Sallagoity, P ; Gaillard, F ; Rivoire, M ; Paoli, M ; Haond, M ; McClathie, S

Microelectronics and reliability, 1998-02, Vol.38 (2), p.271-276 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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10
A fully analytical partitioned-charge-based model for linearly-graded SiGe-base heterojunction bipolar transistors
A fully analytical partitioned-charge-based model for linearly-graded SiGe-base heterojunction bipolar transistors
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A fully analytical partitioned-charge-based model for linearly-graded SiGe-base heterojunction bipolar transistors

Kuo, J.B. ; Lu, T.C.

Solid-state electronics, 1994-08, Vol.37 (8), p.1561-1566 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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