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Nested cross-validation when selecting classifiers is overzealous for most practical applications
Nested cross-validation when selecting classifiers is overzealous for most practical applications
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Nested cross-validation when selecting classifiers is overzealous for most practical applications

Wainer, Jacques ; Cawley, Gavin

Expert systems with applications, 2021-11, Vol.182, p.115222, Article 115222 [Periódico revisado por pares]

New York: Elsevier Ltd

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2
A data-driven approach to referable diabetic retinopathy detection
A data-driven approach to referable diabetic retinopathy detection
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A data-driven approach to referable diabetic retinopathy detection

Pires, Ramon ; Avila, Sandra ; Wainer, Jacques ; Valle, Eduardo ; Abramoff, Michael D. ; Rocha, Anderson

Artificial intelligence in medicine, 2019-05, Vol.96, p.93-106 [Periódico revisado por pares]

Netherlands: Elsevier B.V

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An empirical evaluation of imbalanced data strategies from a practitioner’s point of view
An empirical evaluation of imbalanced data strategies from a practitioner’s point of view
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An empirical evaluation of imbalanced data strategies from a practitioner’s point of view

Wainer, Jacques

Expert systems with applications, 2024-12, Vol.256, p.124863, Article 124863 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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4
Beyond Lesion-Based Diabetic Retinopathy: A Direct Approach for Referral
Beyond Lesion-Based Diabetic Retinopathy: A Direct Approach for Referral
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Beyond Lesion-Based Diabetic Retinopathy: A Direct Approach for Referral

Pires, Ramon ; Avila, Sandra ; Jelinek, Herbert F. ; Wainer, Jacques ; Valle, Eduardo ; Rocha, Anderson

IEEE journal of biomedical and health informatics, 2017-01, Vol.21 (1), p.193-200 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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5
Perceptual Learning Modules (PLM) in CS1: a Negative Result and a Methodological Warning
Perceptual Learning Modules (PLM) in CS1: a Negative Result and a Methodological Warning
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Perceptual Learning Modules (PLM) in CS1: a Negative Result and a Methodological Warning

Caceffo, Ricardo ; Wainer, Jacques ; Gama, Guilherme ; Garcia, Islene ; Azevedo, Rodolfo

J.UCS (Annual print and CD-ROM archive ed.), 2023-01, Vol.29 (9), p.988-1009 [Periódico revisado por pares]

Bristol: Pensoft Publishers

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6
Algorithms for anomaly detection of traces in logs of process aware information systems
Algorithms for anomaly detection of traces in logs of process aware information systems
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Algorithms for anomaly detection of traces in logs of process aware information systems

Bezerra, Fábio ; Wainer, Jacques

Information systems (Oxford), 2013-03, Vol.38 (1), p.33-44 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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7
Empirical comparison of cross-validation and internal metrics for tuning SVM hyperparameters
Empirical comparison of cross-validation and internal metrics for tuning SVM hyperparameters
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Empirical comparison of cross-validation and internal metrics for tuning SVM hyperparameters

Duarte, Edson ; Wainer, Jacques

Pattern recognition letters, 2017-03, Vol.88, p.6-11 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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8
How to tune the RBF SVM hyperparameters? An empirical evaluation of 18 search algorithms
How to tune the RBF SVM hyperparameters? An empirical evaluation of 18 search algorithms
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How to tune the RBF SVM hyperparameters? An empirical evaluation of 18 search algorithms

Wainer, Jacques ; Fonseca, Pablo

The Artificial intelligence review, 2021-08, Vol.54 (6), p.4771-4797 [Periódico revisado por pares]

Dordrecht: Springer Netherlands

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9
Automatic fruit and vegetable classification from images
Automatic fruit and vegetable classification from images
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Automatic fruit and vegetable classification from images

Rocha, Anderson ; Hauagge, Daniel C. ; Wainer, Jacques ; Goldenstein, Siome

Computers and electronics in agriculture, 2010, Vol.70 (1), p.96-104 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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10
Relationship between high-quality journals and conferences in computer vision
Relationship between high-quality journals and conferences in computer vision
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Relationship between high-quality journals and conferences in computer vision

Eckmann, Michael ; Rocha, Anderson ; Wainer, Jacques

Scientometrics, 2012-02, Vol.90 (2), p.617-630 [Periódico revisado por pares]

Dordrecht: Springer Netherlands

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