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1	Material Type: Artigo		Multi-petahertz electronic metrology Garg, M ; Zhan, M ; Luu, T T ; Lakhotia, H ; Klostermann, T ; Guggenmos, A ; Goulielmakis, E Nature (London), 2016-10, Vol.538 (7625), p.359-363 [Periódico revisado por pares] England: Nature Publishing Group Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Artigo		Approaching the intrinsic exciton physics limit in two-dimensional semiconductor diodes Chen, Peng ; Atallah, Timothy L ; Lin, Zhaoyang ; Wang, Peiqi ; Lee, Sung-Joon ; Xu, Junqing ; Huang, Zhihong ; Duan, Xidong ; Ping, Yuan ; Huang, Yu ; Caram, Justin R ; Duan, Xiangfeng Nature (London), 2021-11, Vol.599 (7885), p.404-410 [Periódico revisado por pares] England: Nature Publishing Group Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		Diode fibres for fabric-based optical communications Rein, Michael ; Favrod, Valentine Dominique ; Hou, Chong ; Khudiyev, Tural ; Stolyarov, Alexander ; Cox, Jason ; Chung, Chia-Chun ; Chhav, Chhea ; Ellis, Marty ; Joannopoulos, John ; Fink, Yoel Nature (London), 2018-08, Vol.560 (7717), p.214-218 [Periódico revisado por pares] England: Nature Publishing Group Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		Coherence-selectable operation of external-cavity semiconductor diode laser by intracavity polarisation control Hyodo, M ; Kawakami, A ; Saito, S ; Watanabe, M ; Adachi, M Electronics letters, 2015-04, Vol.51 (7), p.574-575 [Periódico revisado por pares] The Institution of Engineering and Technology Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		An All-Silicon Passive Optical Diode Fan, Li ; Wang, Jian ; Varghese, Leo T. ; Shen, Hao ; Niu, Ben ; Xuan, Yi ; Weiner, Andrew M. ; Qi, Minghao Science (American Association for the Advancement of Science), 2012-01, Vol.335 (6067), p.447-450 [Periódico revisado por pares] Washington, DC: American Association for the Advancement of Science Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Artigo		High voltage and high current density vertical GaN power diodes Armstrong, A.M ; Allerman, A.A ; Fischer, A.J ; King, M.P ; van Heukelom, M.S ; Moseley, M.W ; Kaplar, R.J ; Wierer, J.J ; Crawford, M.H ; Dickerson, J.R Electronics letters, 2016-06, Vol.52 (13), p.1170-1171 [Periódico revisado por pares] United States: The Institution of Engineering and Technology Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		Improvement of conversion efficiency for solar cell with metal–oxide-semiconductor diode Matsuo, N ; Kobayashi, T ; Heya, A Electronics letters, 2013-10, Vol.49 (21), p.1351-1353 [Periódico revisado por pares] Stevenage: The Institution of Engineering and Technology Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Ratcheting quasi-ballistic electrons in silicon geometric diodes at room temperature Custer, Jr, James P ; Low, Jeremy D ; Hill, David J ; Teitsworth, Taylor S ; Christesen, Joseph D ; McKinney, Collin J ; McBride, James R ; Brooke, Martin A ; Warren, Scott C ; Cahoon, James F Science (American Association for the Advancement of Science), 2020-04, Vol.368 (6487), p.177-180 [Periódico revisado por pares] United States: The American Association for the Advancement of Science Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		Wavelength‐stabilized ns‐pulsed 2.2 kW diode laser bar with multiple active regions and tunnel junctions Ammouri, Nor ; Christopher, Heike ; Fricke, Jörg ; Ginolas, Arnim ; Liero, Armin ; Maaßdorf, Andre ; Wenzel, Hans ; Knigge, Andrea Electronics Letters, 2023-01, Vol.59 (1), p.n/a [Periódico revisado por pares] John Wiley & Sons, Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Methodical Error in Measuring Nonlinear Capacity Sergeev, V. A. ; Frolov, I. V. Measurement techniques, 2014-06, Vol.57 (3), p.353-359 [Periódico revisado por pares] Boston: Springer US Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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