skip to main content
Idioma:
Primo Advanced Search
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search Query Term
Primo Advanced Search prefilters
Busca Simples
Refinado por: autor: Martinez, J remover autor: Ventura, S remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data

S. D. Ventura Ernesto Julian Goldberg Birgin; Jesus Manuel Martinez; Ivan Emílio Chambouleyron

Journal of Applied Physics Melville v. 97, n. 4, art. 043512, 2005

Melville 2005

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1436903 )(Acessar)

2
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optimization techniques for the estimation of the thickness and the optical parameters of thin films using reflectance data

S. D. Ventura Ernesto Julian Goldberg Birgin; Jesus Manuel Martinez; Ivan Emílio Chambouleyron

Journal of Applied Physics Melville v. 97, n. 4, art. 043512, 2005

Melville 2005

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1436903 )(Acessar)

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Novas Pesquisas Sugeridas

Ignorar minha busca e procurar por tudo

Deste Autor:

  1. Ventura, S
  2. Martinez, J
  3. Birgin, E
  4. Chambouleyron, I

Neste Assunto:

  1. Física

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.