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1
A 1.2-V 8.3-nJ CMOS Humidity Sensor for RFID Applications
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A 1.2-V 8.3-nJ CMOS Humidity Sensor for RFID Applications

Zhichao Tan ; Daamen, Roel ; Humbert, Aurelie ; Ponomarev, Youri V. ; Youngcheol Chae ; Pertijs, Michiel A. P.

IEEE journal of solid-state circuits, 2013-10, Vol.48 (10), p.2469-2477 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Boson Sampling on a Photonic Chip
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Boson Sampling on a Photonic Chip

Spring, Justin B. ; Metcalf, Benjamin J. ; Humphreys, Peter C. ; Kolthammer, W. Steven ; Jin, Xian-Min ; Barbieri, Marco ; Datta, Animesh ; Thomas-Peter, Nicholas ; Langford, Nathan K. ; Kundys, Dmytro ; Gates, James C. ; Smith, Brian J. ; Smith, Peter G. R. ; Walmsley, Ian A.

Science (American Association for the Advancement of Science), 2013-02, Vol.339 (6121), p.798-801 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

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3
Photonic Boson Sampling in a Tunable Circuit
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Photonic Boson Sampling in a Tunable Circuit

Broome, Matthew A. ; Fedrizzi, Alessandro ; Rahimi-Keshari, Saleh ; Dove, Justin ; Aaronson, Scott ; Ralph, Timothy C. ; White, Andrew G.

Science (American Association for the Advancement of Science), 2013-02, Vol.339 (6121), p.794-798 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

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4
Package Parasitic Inductance Extraction and Simulation Model Development for the High-Voltage Cascode GaN HEMT
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Package Parasitic Inductance Extraction and Simulation Model Development for the High-Voltage Cascode GaN HEMT

Zhengyang Liu ; Xiucheng Huang ; Lee, Fred C. ; Qiang Li

IEEE transactions on power electronics, 2014-04, Vol.29 (4), p.1977-1985 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
A Physically Transient Form of Silicon Electronics
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A Physically Transient Form of Silicon Electronics

Hwang, Suk-Won ; Tao, Hu ; Kim, Dae-Hyeong ; Cheng, Huanyu ; Song, Jun-Kyul ; Rill, Elliott ; Brenckle, Mark A. ; Panilaitis, Bruce ; Won, Sang Min ; Kim, Yun-Soung ; Song, Young Min ; Yu, Ki Jun ; Ameen, Abid ; Li, Rui ; Su, Yewang ; Yang, Miaomiao ; Kaplan, David L. ; Zakin, Mitchell R. ; Slepian, Marvin J. ; Huang, Yonggang ; Omenetto, Fiorenzo G. ; Rogers, John A.

Science (American Association for the Advancement of Science), 2012-09, Vol.337 (6102), p.1640-1644 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

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6
Self-Synchronized Synchronverters: Inverters Without a Dedicated Synchronization Unit
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Self-Synchronized Synchronverters: Inverters Without a Dedicated Synchronization Unit

Zhong, Q-C ; Nguyen, P-L ; Ma, Z ; Sheng, W

IEEE transactions on power electronics, 2014-02, Vol.29 (2), p.617-630 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
A 300-GHz Fundamental Oscillator in 65-nm CMOS Technology
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A 300-GHz Fundamental Oscillator in 65-nm CMOS Technology

Razavi, Behzad

IEEE journal of solid-state circuits, 2011-04, Vol.46 (4), p.894-903 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Resistive Switching by Voltage-Driven Ion Migration in Bipolar RRAM-Part II: Modeling
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Resistive Switching by Voltage-Driven Ion Migration in Bipolar RRAM-Part II: Modeling

Larentis, Stefano ; Nardi, Federico ; Balatti, Simone ; Gilmer, David C. ; Ielmini, Daniele

IEEE transactions on electron devices, 2012-09, Vol.59 (9), p.2468-2475 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
An All-Silicon Passive Optical Diode
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An All-Silicon Passive Optical Diode

Fan, Li ; Wang, Jian ; Varghese, Leo T. ; Shen, Hao ; Niu, Ben ; Xuan, Yi ; Weiner, Andrew M. ; Qi, Minghao

Science (American Association for the Advancement of Science), 2012-01, Vol.335 (6067), p.447-450 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

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10
Considerations for Ultimate CMOS Scaling
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Considerations for Ultimate CMOS Scaling

Kuhn, K. J.

IEEE transactions on electron devices, 2012-07, Vol.59 (7), p.1813-1828 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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