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Boson Sampling on a Photonic Chip
Boson Sampling on a Photonic Chip
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Boson Sampling on a Photonic Chip

Spring, Justin B. ; Metcalf, Benjamin J. ; Humphreys, Peter C. ; Kolthammer, W. Steven ; Jin, Xian-Min ; Barbieri, Marco ; Datta, Animesh ; Thomas-Peter, Nicholas ; Langford, Nathan K. ; Kundys, Dmytro ; Gates, James C. ; Smith, Brian J. ; Smith, Peter G. R. ; Walmsley, Ian A.

Science (American Association for the Advancement of Science), 2013-02, Vol.339 (6121), p.798-801 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

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Photonic Boson Sampling in a Tunable Circuit
Photonic Boson Sampling in a Tunable Circuit
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Photonic Boson Sampling in a Tunable Circuit

Broome, Matthew A. ; Fedrizzi, Alessandro ; Rahimi-Keshari, Saleh ; Dove, Justin ; Aaronson, Scott ; Ralph, Timothy C. ; White, Andrew G.

Science (American Association for the Advancement of Science), 2013-02, Vol.339 (6121), p.794-798 [Periódico revisado por pares]

Washington, DC: American Association for the Advancement of Science

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A Novel Technique for Improving Hardware Trojan Detection and Reducing Trojan Activation Time
A Novel Technique for Improving Hardware Trojan Detection and Reducing Trojan Activation Time
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A Novel Technique for Improving Hardware Trojan Detection and Reducing Trojan Activation Time

Salmani, H. ; Tehranipoor, M. ; Plusquellic, J.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-01, Vol.20 (1), p.112-125 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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ORION 2.0: A Power-Area Simulator for Interconnection Networks
ORION 2.0: A Power-Area Simulator for Interconnection Networks
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ORION 2.0: A Power-Area Simulator for Interconnection Networks

Kahng, A. B. ; Bin Li ; Li-Shiuan Peh ; Samadi, K.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-01, Vol.20 (1), p.191-196 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Design of Low-Power High-Speed Truncation-Error-Tolerant Adder and Its Application in Digital Signal Processing
Design of Low-Power High-Speed Truncation-Error-Tolerant Adder and Its Application in Digital Signal Processing
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Design of Low-Power High-Speed Truncation-Error-Tolerant Adder and Its Application in Digital Signal Processing

Zhu, Ning ; Goh, Wang Ling ; Zhang, Weija ; Yeo, Kiat Seng ; Kong, Zhi Hui

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2010-08, Vol.18 (8), p.1225-1229 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Low-Power and Area-Efficient Carry Select Adder
Low-Power and Area-Efficient Carry Select Adder
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Low-Power and Area-Efficient Carry Select Adder

Ramkumar, B. ; Kittur, H. M.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-02, Vol.20 (2), p.371-375 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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DE-Based Reversible Data Hiding With Improved Overflow Location Map
DE-Based Reversible Data Hiding With Improved Overflow Location Map
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DE-Based Reversible Data Hiding With Improved Overflow Location Map

Hu, Yongjian ; Lee, Heung-Kyu ; Li, Jianwei

IEEE transactions on circuits and systems for video technology, 2009-02, Vol.19 (2), p.250-260 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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HotSpot: a compact thermal modeling methodology for early-stage VLSI design
HotSpot: a compact thermal modeling methodology for early-stage VLSI design
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HotSpot: a compact thermal modeling methodology for early-stage VLSI design

Wei Huang ; Ghosh, S. ; Velusamy, S. ; Sankaranarayanan, K. ; Skadron, K. ; Stan, M.R.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2006-05, Vol.14 (5), p.501-513 [Periódico revisado por pares]

Piscataway, NJ: IEEE

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Proactive Vehicular Traffic Rerouting for Lower Travel Time
Proactive Vehicular Traffic Rerouting for Lower Travel Time
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Proactive Vehicular Traffic Rerouting for Lower Travel Time

Pan, Juan ; Popa, Iulian Sandu ; Zeitouni, Karine ; Borcea, Cristian

IEEE transactions on vehicular technology, 2013-10, Vol.62 (8), p.3551-3568 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Ultralow-Voltage Process-Variation-Tolerant Schmitt-Trigger-Based SRAM Design
Ultralow-Voltage Process-Variation-Tolerant Schmitt-Trigger-Based SRAM Design
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Ultralow-Voltage Process-Variation-Tolerant Schmitt-Trigger-Based SRAM Design

Kulkarni, J. P. ; Roy, K.

IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems, 2012-02, Vol.20 (2), p.319-332 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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