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1
Efficient Contrast Enhancement Using Adaptive Gamma Correction With Weighting Distribution
Efficient Contrast Enhancement Using Adaptive Gamma Correction With Weighting Distribution
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Efficient Contrast Enhancement Using Adaptive Gamma Correction With Weighting Distribution

HUANG, Shih-Chia ; CHENG, Fan-Chieh ; CHIU, Yi-Sheng

IEEE transactions on image processing, 2013-03, Vol.22 (3), p.1032-1041 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Random Projections of Residuals for Digital Image Steganalysis
Random Projections of Residuals for Digital Image Steganalysis
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Random Projections of Residuals for Digital Image Steganalysis

Holub, Vojtech ; Fridrich, Jessica

IEEE transactions on information forensics and security, 2013-12, Vol.8 (12), p.1996-2006 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
Theory and Algorithms for Constructing Discrete Morse Complexes from Grayscale Digital Images
Theory and Algorithms for Constructing Discrete Morse Complexes from Grayscale Digital Images
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Theory and Algorithms for Constructing Discrete Morse Complexes from Grayscale Digital Images

Robins, V ; Wood, P J ; Sheppard, A P

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2011-08, Vol.33 (8), p.1646-1658 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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4
Contrast Enhancement-Based Forensics in Digital Images
Contrast Enhancement-Based Forensics in Digital Images
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Contrast Enhancement-Based Forensics in Digital Images

Cao, Gang ; Zhao, Yao ; Ni, Rongrong ; Li, Xuelong

IEEE transactions on information forensics and security, 2014-03, Vol.9 (3), p.515-525 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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5
Rotation Invariant Localization of Duplicated Image Regions Based on Zernike Moments
Rotation Invariant Localization of Duplicated Image Regions Based on Zernike Moments
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Rotation Invariant Localization of Duplicated Image Regions Based on Zernike Moments

Seung-Jin Ryu ; Kirchner, Matthias ; Min-Jeong Lee ; Heung-Kyu Lee

IEEE transactions on information forensics and security, 2013-08, Vol.8 (8), p.1355-1370 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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6
Watershed Cuts: Minimum Spanning Forests and the Drop of Water Principle
Watershed Cuts: Minimum Spanning Forests and the Drop of Water Principle
Material Type:
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Watershed Cuts: Minimum Spanning Forests and the Drop of Water Principle

Cousty, J. ; Bertrand, G. ; Najman, L. ; Couprie, M.

IEEE transactions on pattern analysis and machine intelligence, 2009-08, Vol.31 (8), p.1362-1374 [Periódico revisado por pares]

Los Alamitos, CA: IEEE

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7
Region filling and object removal by exemplar-based image inpainting
Region filling and object removal by exemplar-based image inpainting
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Region filling and object removal by exemplar-based image inpainting

Criminisi, A. ; Perez, P. ; Toyama, K.

IEEE transactions on image processing, 2004-09, Vol.13 (9), p.1200-1212 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
How realistic is photorealistic?
How realistic is photorealistic?
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

How realistic is photorealistic?

Lyu, S. ; Farid, H.

IEEE transactions on signal processing, 2005-02, Vol.53 (2), p.845-850 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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9
Adaptive homogeneity-directed demosaicing algorithm
Adaptive homogeneity-directed demosaicing algorithm
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Adaptive homogeneity-directed demosaicing algorithm

Hirakawa, K. ; Parks, T.W.

IEEE transactions on image processing, 2005-03, Vol.14 (3), p.360-369 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
Image Annotation by Graph-Based Inference With Integrated Multiple/Single Instance Representations
Image Annotation by Graph-Based Inference With Integrated Multiple/Single Instance Representations
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Image Annotation by Graph-Based Inference With Integrated Multiple/Single Instance Representations

Tang, Jinhui ; Li, Haojie ; Qi, Guo-Jun ; Chua, Tat-Seng

IEEE transactions on multimedia, 2010-02, Vol.12 (2), p.131-141 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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