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Animating the evolution of a field
Animating the evolution of a field
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Animating the evolution of a field

Schneider, J.B. ; Flynn, P.J. ; Shlager, K.L.

IEEE antennas & propagation magazine, 1996-12, Vol.38 (6), p.7-17

New York, NY: IEEE

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2
Using partial-pressure analysis to detect contamination in an oxygen gas supply
Using partial-pressure analysis to detect contamination in an oxygen gas supply
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Using partial-pressure analysis to detect contamination in an oxygen gas supply

Schneider, Thomas P ; Taylor, Kelly J ; Rothenbury, David A ; Chavis, Mark ; Hoff, Timothy ; Huffman, Craig H

Micro (Santa Monica, Calif.), 1999-01, Vol.17 (1), p.35-40

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POLARIZED LIFE
POLARIZED LIFE
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POLARIZED LIFE

Schneider, David

Scientific American, 1998-10, Vol.279 (4), p.24-24

New York: Scientific American, Incorporated

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4
PLC I/O systems : News, views, and networks
PLC I/O systems : News, views, and networks
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PLC I/O systems : News, views, and networks

BALL, K

Control engineering, 1997-10, Vol.44 (14), p.81-88

Highlands Ranch, CO: Cahners

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5
Quantitative Dopant Profiling by Energy Filtering in the Scanning Electron Microscope
Quantitative Dopant Profiling by Energy Filtering in the Scanning Electron Microscope
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Quantitative Dopant Profiling by Energy Filtering in the Scanning Electron Microscope

Chee, Augustus K. W.

IEEE transactions on device and materials reliability, 2016-06, Vol.16 (2), p.138-148 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Wafer inspection automation: current and future needs
Wafer inspection automation: current and future needs
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Wafer inspection automation: current and future needs

HARRIS, K ; SANDLAND, P ; SINGLETON, R

Solid state technology, 1983, Vol.26 (8), p.199-205

Tulsa, OK: PennWell

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7
Selectively oxidized VCSELs go single-mode
Selectively oxidized VCSELs go single-mode
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Selectively oxidized VCSELs go single-mode

CHOQUETTE, K. D

Laser focus world, 2000-05, Vol.36 (5), p.251-254

Tulsa, OK: Pennwell

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8
Frequency Dependent Degradation and Failure of Flexible a-InGaZnO Thin-Film Transistors Under Dynamic Stretch Stress
Frequency Dependent Degradation and Failure of Flexible a-InGaZnO Thin-Film Transistors Under Dynamic Stretch Stress
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Frequency Dependent Degradation and Failure of Flexible a-InGaZnO Thin-Film Transistors Under Dynamic Stretch Stress

Zhou, Wenjuan ; Zou, Mingchen ; Wang, Mingxiang ; Zhang, Dongli ; Wang, Huaisheng

IEEE transactions on device and materials reliability, 2023-09, Vol.23 (3), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
The complementary operators method in FDTD simulations
The complementary operators method in FDTD simulations
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The complementary operators method in FDTD simulations

Ramahi, O.M.

IEEE antennas & propagation magazine, 1997-12, Vol.39 (6), p.33-45

New York, NY: IEEE

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10
Mars code
Mars code
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Mars code

Holzmann, Gerard

Communications of the ACM, 2014-02, Vol.57 (2), p.64-73

New York, NY: ACM

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