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1 Resultados para Produção Intelectual da USP

Refinado por: tipo de recurso: Outros

Result Number	Material Type	Add to My Shelf Action	Record Details and Options
1	$Characterization of Ba'Bi IND.2''Ta IND.2''O IND.9' thin films through the glazing incidence X-ray diffraction technique$ $Characterization of Ba'Bi IND.2''Ta IND.2''O IND.9' thin films through the glazing incidence X-ray diffraction technique$ Material Type: Outros		Characterization of Ba'Bi IND.2''Ta IND.2''O IND.9' thin films through the glazing incidence X-ray diffraction technique C R Foschini Valmor Roberto Mastelaro; J A Varella Laboratorio Nacional de Luz Sincrotron Activity report 1999 Campinas : LNLS, 2000 Campinas LNLS 2000 Item não circula. Consulte sua biblioteca.(Acessar) Detalhes Resenhas & Tags Solicitações Mais Opções