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1990Até2000
| Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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| 1 |
Material Type: Livro
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Placement and routing of electronic modulesMichael PechtNew York M. Dekker c1993Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval (621.3.049.75 P69 )(Acessar) |
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Material Type: Artigo
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Aktuelle Entwicklungen der MikroelektronikSelberherr, S.Elektrotechnik und Informationstechnik, 1999-09, Vol.116 (9), p.485-490 [Periódico revisado por pares]Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Informationstagung Mikroelektronik 1999Friedmann, MiguelElektrotechnik und Informationstechnik, 1999-09, Vol.116 (9), p.477-478 [Periódico revisado por pares]Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Elektrochemische Migration - eine typische Korrosionserscheinung in der MikroelektronikSchmitt-Thomas, Kh. G. ; Wege, S. ; Schweigart, H.Materials and corrosion, 1995-06, Vol.46 (6), p.366-369 [Periódico revisado por pares]Weinheim: WILEY-VCH Verlag GmbHTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Schlüsseltechnik Mikroelektronik: Chancen und HerausforderungenNeppl, F.Elektrotechnik und Informationstechnik, 1997-09, Vol.114 (9), p.464-465 [Periódico revisado por pares]Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Vorwort zur Informationstagung Mikroelektronik 1997Fiedler, GüntherElektrotechnik und Informationstechnik, 1997-09, Vol.114 (9), p.428-430 [Periódico revisado por pares]Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Korrosion von Bauelementen in der MikroelektronikBrand, U. J. ; Fröhlich, Th ; Kohler, St ; Bühler, H.-E.Materials and corrosion, 1997, Vol.48 (4), p.243-251 [Periódico revisado por pares]Weinheim: WILEY-VCH Verlag GmbHTexto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Bewertung des Korrosionsschutzes von Drahtbondverbindungen mittels Glob Top bei unterschiedlichen UmgebungsbedingungenBerek, H. ; Fritzsch, T. ; Schneider, W.Materials and corrosion, 2000-12, Vol.51 (12), p.875-879 [Periódico revisado por pares]Weinheim: WILEY-VCH Verlag GmbHTexto completo disponível |
| 9 |
Material Type: Artigo
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Korrosion von Bauelementen in der MikroelektronikBrand, U. J. ; Fröhlich, Th ; Kohler, St ; Bühler, H.‐E.Materials and corrosion, 1997-04, Vol.48 (4), p.243-251 [Periódico revisado por pares]Weinheim: WILEY‐VCH Verlag GmbHTexto completo disponível |
| 10 |
Material Type: Artigo
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Lithium silicon tin oxynitride (Li ySiTON): high-performance anode in thin-film lithium-ion batteries for microelectronicsNeudecker, B.J. ; Zuhr, R.A. ; Bates, J.B.Journal of power sources, 1999-09, Vol.81, p.27-32 [Periódico revisado por pares]Lausanne: Elsevier B.VTexto completo disponível |
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