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1
A Dual Mode Redundant Approach for Microprocessor Soft Error Hardness
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A Dual Mode Redundant Approach for Microprocessor Soft Error Hardness

Clark, L. T. ; Patterson, D. W. ; Hindman, N. D. ; Holbert, K. E. ; Maurya, S. ; Guertin, S. M.

IEEE transactions on nuclear science, 2011-12, Vol.58 (6), p.3018-3025 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Analysis of radiation effects on individual DRAM cells
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Analysis of radiation effects on individual DRAM cells

Scheick, L.Z. ; Guertin, S.M. ; Swift, G.M.

IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.2534-2538 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Microdose Induced Data Loss on Floating Gate Memories
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Microdose Induced Data Loss on Floating Gate Memories

Guertin, S.M. ; Nguyen, D.N. ; Patterson, J.D.

IEEE transactions on nuclear science, 2006-12, Vol.53 (6), p.3518-3524 [Periódico revisado por pares]

Jet Propulsion Laboratory: IEEE

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4
Radiation effects on advanced flash memories
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Radiation effects on advanced flash memories

Nguyen, D.N. ; Guertin, S.M. ; Swift, G.M. ; Johnston, A.H.

IEEE transactions on nuclear science, 1999-12, Vol.46 (6), p.1744-1750 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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5
In-flight observations of multiple-bit upset in DRAMs
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In-flight observations of multiple-bit upset in DRAMs

Swift, G.M. ; Guertin, S.M.

IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.2386-2391 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Single-event upset in the PowerPC750 microprocessor
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Single-event upset in the PowerPC750 microprocessor

Swift, G.M. ; Fannanesh, F.F. ; Guertin, S.M. ; Irom, F. ; Millward, D.G.

IEEE transactions on nuclear science, 2001-12, Vol.48 (6), p.1822-1827 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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7
Ion-induced stuck bits in 1T/1C SDRAM cells
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Artigo
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Ion-induced stuck bits in 1T/1C SDRAM cells

Edmonds, L.D. ; Guertin, S.M. ; Scheick, L.Z. ; Nguyen, D. ; Swift, G.M.

IEEE transactions on nuclear science, 2001-12, Vol.48 (6), p.1925-1930 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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8
Erratum: Strange and multistrange particle production in Au+Au collisions at s N N = 62.4 GeV [Phys. Rev. C 83 , 024901 (2011)]
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Erratum: Strange and multistrange particle production in Au+Au collisions at s N N = 62.4 GeV [Phys. Rev. C 83 , 024901 (2011)]

Arkhipkin, D. ; Bellwied, R. ; Betancourt, M. J. ; Bouchet, J. ; Bruna, E. ; Bueltmann, S. ; Bunzarov, I. ; Cai, X. Z. ; Cebra, D. ; Chaloupka, P. ; Chattopadhyay, S. ; Cheng, J. ; Chikanian, A. ; Christie, W. ; Chung, P. ; Codrington, M. J. M. ; Debbe, R. R. ; Derevschikov, A. A. ; de Souza, R. Derradi ; Drachenberg, J. L. ; Draper, J. E. ; Efimov, L. G. ; Estienne, M. ; Fedorisin, J. ; Geromitsos, A. ; Geurts, F. ; Grebenyuk, O. ; Hajkova, O. ; Harris, J. W. ; Hays-Wehle, J. P. ; Huang, B. ; Judd, E. G. ; Kapitan, J. ; Knospe, A. G. ; Kollegger, T. ; Kouchpil, V. ; Krueger, K. ; Krus, M. ; Kumar, L. ; Lebedev, A. ; Li, X. ; Li, Z. M. ; Liu, F. ; Liu, H. ; Ljubicic, T. ; Lukashov, E. V. ; Ma, Y. G. ; Margetis, S. ; Masui, H. ; McShane, T. S. ; Meschanin, A. ; Milner, R. ; Munhoz, M. G. ; Naglis, M. ; Ng, M. J. ; Niida, T. ; Ohlson, A. ; Pachr, M. ; Pawlak, T. ; Plyku, D. ; Powell, C. B. ; Prindle, D. ; Putschke, J. ; Reed, R. ; Romero, J. L. ; Ruan, L. ; Sakai, S. ; Sakrejda, I. ; Salur, S. ; Schambach, J. ; Scharenberg, R. P. ; Schmah, A. M. ; Shahaliev, E. ; Shao, M. ; Simon, F. ; Speltz, J. ; Stringfellow, B. ; Suaide, A. A. P. ; Sun, Z. ; Tang, Z. ; Tarnowsky, T. ; Thein, D. ; Thomas, J. H. ; Tian, J. ; Trentalange, S. ; Van Buren, G. ; Varma, R. ; Wada, M. ; Webb, J. C. ; Whitten, C. ; Wieman, H. ; Witzke, W. ; Xie, W. ; Yepes, P. ; Yip, K. ; Yue, Q. ; Zbroszczyk, H. ; Zhang, Z. P. ; Zhao, J. ; Zoulkarneeva, Y.

Physical review. C, 2023-04, Vol.107 (4), Article 049903 [Periódico revisado por pares]

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9
Angular dependence of DRAM upset susceptibility and implications for testing and analysis
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Angular dependence of DRAM upset susceptibility and implications for testing and analysis

Guertin, S.M. ; Edmonds, L.D. ; Swift, G.M.

IEEE transactions on nuclear science, 2000-12, Vol.47 (6), p.2380-2385 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Angular and energy dependence of proton upset in optocouplers
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Artigo
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Angular and energy dependence of proton upset in optocouplers

Johnston, A.H. ; Miyahira, T. ; Swift, G.M. ; Guertin, S.M. ; Edmonds, L.D.

IEEE transactions on nuclear science, 1999-12, Vol.46 (6), p.1335-1341 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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