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Impact of local back biasing on performance in hybrid FDSOI/bulk high-k/metal gate low power (LP) technology
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Impact of local back biasing on performance in hybrid FDSOI/bulk high-k/metal gate low power (LP) technology

Fenouillet-Beranger, C. ; Perreau, P. ; Benoist, T. ; Richier, C. ; Haendler, S. ; Pradelle, J. ; Bustos, J. ; Brun, P. ; Tosti, L. ; Weber, O. ; Andrieu, F. ; Orlando, B. ; Pellissier-Tanon, D. ; Abbate, F. ; Richard, C. ; Beneyton, R. ; Gregoire, M. ; Ducote, J. ; Gouraud, P. ; Margain, A. ; Borowiak, C. ; Bianchini, R. ; Planes, N. ; Gourvest, E. ; Bourdelle, K.K. ; Nguyen, B.Y. ; Poiroux, T. ; Skotnicki, T. ; Faynot, O. ; Boeuf, F.

Solid-state electronics, 2013-10, Vol.88, p.15-20 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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2
On infinite dimensional sheets
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On infinite dimensional sheets

Feyel, D. ; de La Pradelle, A.

Potential analysis, 1995-08, Vol.4 (4), p.345-359 [Periódico revisado por pares]

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3
Brownian processes in infinite dimension
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Brownian processes in infinite dimension

Feyel, Denis ; de la Pradelle, Arnaud

Potential analysis, 1995-04, Vol.4 (2), p.173-183 [Periódico revisado por pares]

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