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Impact of local back biasing on performance in hybrid FDSOI/bulk high-k/metal gate low power (LP) technology
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Impact of local back biasing on performance in hybrid FDSOI/bulk high-k/metal gate low power (LP) technology

Fenouillet-Beranger, C. ; Perreau, P. ; Benoist, T. ; Richier, C. ; Haendler, S. ; Pradelle, J. ; Bustos, J. ; Brun, P. ; Tosti, L. ; Weber, O. ; Andrieu, F. ; Orlando, B. ; Pellissier-Tanon, D. ; Abbate, F. ; Pvichard, C. ; Beneyton, R. ; Gregoire, M. ; Ducote, J. ; Gouraud, P. ; Margain, A. ; Borowiak, C. ; Bianchini, R. ; Planes, N. ; Gourvest, E. ; Bourdelle, K. K. ; Nguyen, B. Y. ; Poiroux, T. ; Skotnicki, T. ; Faynot, O. ; Boeuf, F.

2012 13th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS), 2012, p.165-168

IEEE

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2
Reflections on the 3d session of the Conférence Diplomatique de Genève on the humanitarian international law
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Ata de Congresso
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Reflections on the 3d session of the Conférence Diplomatique de Genève on the humanitarian international law

De la Pradelle, P G

Annales de droit international medical, 1977 (27), p.7-15 [Periódico revisado por pares]

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