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High-k metal gate characterization using picosecond ultrasonic technology
High-k metal gate characterization using picosecond ultrasonic technology
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High-k metal gate characterization using picosecond ultrasonic technology

Dai, J ; Mukundhan, P ; Chen, J ; Tan, J ; Hsieh, D.B ; Tsai, T.C

Solid state technology, 2011-03, Vol.54 (3), p.14-17

Tulsa: PennWell Publishing Corp

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2
Laser Peening Technology
Laser Peening Technology
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magazinearticle 		Adicionar ao Meu Espaço

Laser Peening Technology

Hill, Michael R ; DeWald, Adrian T ; Demma, Anne G ; Hackel, Lloyd A

Advanced materials & processes, 2003-08, Vol.161 (8), p.65-67

Metals Park: ASM International

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