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1
Semicondutores amorfos na natureza melaninas
Semicondutores amorfos na natureza melaninas
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Semicondutores amorfos na natureza melaninas

D S Galvao Marília Junqueira Caldas; Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada (12. 1989 Caxambu)

Programa e Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Fisica, 1989

Sao Paulo Sociedade Brasileira de Fisica 1989

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2
Descargas eletrostaticas em dispositivos semicondutores
Descargas eletrostaticas em dispositivos semicondutores
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Descargas eletrostaticas em dispositivos semicondutores

M O Perez Lisboa Francisco Javier Ramírez Fernandez 1944-; Congresso de Iniciacao Cientifica e Tecnologica em Engenharia (10. 1991 São Carlos)

Anais Cicte-91 São Carlos : Cetepe, 1991

Sao Carlos Cetepe 1991

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3
Modelos de aglomerados para impurezas em semicondutores
Modelos de aglomerados para impurezas em semicondutores
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Modelos de aglomerados para impurezas em semicondutores

C W Rodrigues Marília Junqueira Caldas; Encontro Nacional de Fisica da Materia Condensada (12. 1989 Caxambu)

Programa e Resumos São Paulo : Sociedade Brasileira de Fisica, 1989

São Paulo Sociedade Brasileira de Fisica 1989

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4
Estruturas testes para ensaios de descargas eletrostaticas em dispositivos semicondutores
Estruturas testes para ensaios de descargas eletrostaticas em dispositivos semicondutores
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Estruturas testes para ensaios de descargas eletrostaticas em dispositivos semicondutores

A L Sampaio M O Perez Lisboa; Francisco Javier Ramírez Fernandez 1944-; Congresso de Iniciacao Cientifica e Tecnologica em Engenharia (12. 1993 São Carlos)

Anais Cicte-93 São Carlos : Cetepe, 1993

Sao Carlos Cetepe 1993

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5
Correlação eletrônica em semicondutores III-V dopados com metais de transição
Correlação eletrônica em semicondutores III-V dopados com metais de transição
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Correlação eletrônica em semicondutores III-V dopados com metais de transição

Makiuchi, Nilo

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 1990-03-28

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

6
Propriedades eletrônicas de hetero-estruturas de semicondutores zincblende.
Propriedades eletrônicas de hetero-estruturas de semicondutores zincblende.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Propriedades eletrônicas de hetero-estruturas de semicondutores zincblende.

Chitta, Valmir Antonio

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física e Química de São Carlos 1987-10-27

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

7
Estabilização de lasers de semicondutores.
Estabilização de lasers de semicondutores.
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Estabilização de lasers de semicondutores.

La Scala Junior, Newton

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física e Química de São Carlos 1989-09-15

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

8
Mobilidade hall e concentração de portadores em filmes semicondutores 'GA''AS' 'SI' crescidos por mbe
Mobilidade hall e concentração de portadores em filmes semicondutores 'GA''AS' 'SI' crescidos por mbe
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Mobilidade hall e concentração de portadores em filmes semicondutores 'GA''AS' 'SI' crescidos por mbe

A M Ceschin A C Notari; E Manzoli; B Sharappe; Máximo Siu Li; Reunião Anual da SBPC (41. 1989 Fortaleza)

São Paulo v.41, n.7 supl., p.285, jul. 1989 Ciência e Cultura

São Paulo 1989

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD001139 ) e outros locais(Acessar)

9
Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores
Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Mecanismos de falha e indicadores da confiabilidade de dispositivos semicondutores

Francisco Javier Ramírez Fernandez 1944- Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciencia dos Materiais (9. 1990 Aguas de São Pedro, SP)

Anais São Paulo : Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar, 1990

São Paulo Ipen/Cnen-Sp/Dema-Ufscar 1990

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10
Impurezas 4d, 5d e 4f em semicondutores iii-v
Impurezas 4d, 5d e 4f em semicondutores iii-v
Material Type:
Tese de Doutorado 		Adicionar ao Meu Espaço

Impurezas 4d, 5d e 4f em semicondutores iii-v

Tania Cristina Arantes Macedo de Azevedo Adalberto Fazzio

1989

Localização: IF - Instituto de Física    (TIFUSP A994i D Ex.3 )(Acessar)

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