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High temperature electron cyclotron resonance etching of GaN, InN, and AlN
High temperature electron cyclotron resonance etching of GaN, InN, and AlN
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High temperature electron cyclotron resonance etching of GaN, InN, and AlN

Shul, R. J. ; Kilcoyne, S. P. ; Hagerott Crawford, M. ; Parmeter, J. E. ; Vartuli, C. B. ; Abernathy, C. R. ; Pearton, S. J.

Applied physics letters, 1995-04, Vol.66 (14), p.1761-1763 [Periódico revisado por pares]

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2
Electrostatic potential mapping at ferroelectric domain walls by low-temperature photoemission electron microscopy
Electrostatic potential mapping at ferroelectric domain walls by low-temperature photoemission electron microscopy
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Electrostatic potential mapping at ferroelectric domain walls by low-temperature photoemission electron microscopy

Schaab, J. ; Shapovalov, K. ; Schoenherr, P. ; Hackl, J. ; Khan, M. I. ; Hentschel, M. ; Yan, Z. ; Bourret, E. ; Schneider, C. M. ; Nemsák, S. ; Stengel, M. ; Cano, A. ; Meier, D.

Applied physics letters, 2019-09, Vol.115 (12) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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3
Electrostatic potential mapping at ferroelectric domain walls by low-temperature photoemission electron microscopy
Electrostatic potential mapping at ferroelectric domain walls by low-temperature photoemission electron microscopy
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Electrostatic potential mapping at ferroelectric domain walls by low-temperature photoemission electron microscopy

Schaab, J. ; Shapovalov, K. ; Schoenherr, P. ; Hackl, J. ; Khan, M. I. ; Hentschel, M. ; Yan, Z. ; Bourret, E. ; Schneider, C. M. ; Nemsák, S. ; Stengel, M. ; Cano, A. ; Meier, D.

Applied physics letters, 2019-09, Vol.115 (12) [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics (AIP)

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4
Role of temperature-dependent electron trapping dynamics in the optically driven nanodomain transformation in a PbTiO3/SrTiO3 superlattice
Role of temperature-dependent electron trapping dynamics in the optically driven nanodomain transformation in a PbTiO3/SrTiO3 superlattice
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Role of temperature-dependent electron trapping dynamics in the optically driven nanodomain transformation in a PbTiO3/SrTiO3 superlattice

Park, Joonkyu ; Ahn, Youngjun ; Tilka, Jack A. ; Lee, Hyeon Jun ; Pateras, Anastasios ; Yusuf, Mohammed H. ; Dawber, Matthew ; Wen, Haidan ; Evans, Paul G.

Applied physics letters, 2020-01, Vol.116 (1) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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5
Magnetic shielding of a laboratory Hall thruster. II. Experiments
Magnetic shielding of a laboratory Hall thruster. II. Experiments
Material Type:
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Magnetic shielding of a laboratory Hall thruster. II. Experiments

Hofer, Richard R. ; Goebel, Dan M. ; Mikellides, Ioannis G. ; Katz, Ira

Journal of applied physics, 2014-01, Vol.115 (4), p.43304 [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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6
Enhancing electron mobility in La-doped BaSnO{sub 3} thin films by thermal strain to annihilate extended defects
Enhancing electron mobility in La-doped BaSnO{sub 3} thin films by thermal strain to annihilate extended defects
Material Type:
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Enhancing electron mobility in La-doped BaSnO{sub 3} thin films by thermal strain to annihilate extended defects

Yu, Sangbae ; Yoon, Daseob ; Son, Junwoo

Applied physics letters, 2016-06, Vol.108 (26) [Periódico revisado por pares]

United States

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7
The evidence of cathodic micro-discharges during plasma electrolytic oxidation process
The evidence of cathodic micro-discharges during plasma electrolytic oxidation process
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

The evidence of cathodic micro-discharges during plasma electrolytic oxidation process

Nominé, A. ; Martin, J. ; Noël, C. ; Henrion, G. ; Belmonte, T. ; Bardin, I. V. ; Kovalev, V. L. ; Rakoch, A. G.

Applied physics letters, 2014-02, Vol.104 (8) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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8
Low temperature annealing of electron irradiation induced defects in 4H-SiC
Low temperature annealing of electron irradiation induced defects in 4H-SiC
Material Type:
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Low temperature annealing of electron irradiation induced defects in 4H-SiC

Castaldini, Antonio ; Cavallini, Anna ; Rigutti, Lorenzo ; Nava, Filippo

Applied physics letters, 2004-10, Vol.85 (17), p.3780-3782 [Periódico revisado por pares]

United States

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9
Hot electron relaxation and energy loss rate in silicon: Temperature dependence and main scattering channels
Hot electron relaxation and energy loss rate in silicon: Temperature dependence and main scattering channels
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Hot electron relaxation and energy loss rate in silicon: Temperature dependence and main scattering channels

Sen, R. ; Vast, N. ; Sjakste, J.

Applied physics letters, 2022-02, Vol.120 (8) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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10
Electron-phonon coupling in ion implanted cobalt silicide below 1 K
Electron-phonon coupling in ion implanted cobalt silicide below 1 K
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Electron-phonon coupling in ion implanted cobalt silicide below 1 K

Tuboltsev, V. ; Savin, A. ; Räisänen, J.

Applied physics letters, 2008-03, Vol.92 (11), p.112102-112102-3 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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