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1
Reliable modeling of ultrathin alternative plasmonic materials using spectroscopic ellipsometry [Invited]
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Artigo
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Reliable modeling of ultrathin alternative plasmonic materials using spectroscopic ellipsometry [Invited]

Secondo, R. ; Fomra, D. ; Izyumskaya, N. ; Avrutin, V. ; Hilfiker, J. N ; Martin, A. ; Özgür, Ü. ; Kinsey, N.

Optical materials express, 2019-02, Vol.9 (2), p.760 [Periódico revisado por pares]

Washington: Optical Society of America

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2
Multiple oscillator models for the optical constants of polycrystalline zinc oxide thin films over a wide wavelength range
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Artigo
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Multiple oscillator models for the optical constants of polycrystalline zinc oxide thin films over a wide wavelength range

Khoshman, J.M. ; Hilfiker, J.N. ; Tabet, N. ; Kordesch, M.E.

Applied surface science, 2014-07, Vol.307, p.558-565 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
Polarization resolved reflection from ordered vertical silicon nanowire arrays
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Artigo
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Polarization resolved reflection from ordered vertical silicon nanowire arrays

Khorasaninejad, M ; Abedzadeh, N ; Sun, J ; Hilfiker, J N ; Saini, S S

Optics letters, 2012-07, Vol.37 (14), p.2961-2963 [Periódico revisado por pares]

United States

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4
Quantum Composites with Charge‐Density‐Wave Fillers
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Artigo
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Quantum Composites with Charge‐Density‐Wave Fillers

Barani, Zahra ; Geremew, Tekwam ; Stokey, Megan ; Sesing, Nicholas ; Taheri, Maedeh ; Hilfiker, Matthew J. ; Kargar, Fariborz ; Schubert, Mathias ; Salguero, Tina T. ; Balandin, Alexander A.

Advanced materials (Weinheim), 2023-05, Vol.35 (19), p.e2209708-n/a [Periódico revisado por pares]

Germany: Wiley Subscription Services, Inc

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5
Spectroscopic ellipsometry characterization of SiNx antireflection films on textured multicrystalline and monocrystalline silicon solar cells
Material Type:
Artigo
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Spectroscopic ellipsometry characterization of SiNx antireflection films on textured multicrystalline and monocrystalline silicon solar cells

SAENGER, M. F ; SUN, J ; SCHÄDEL, M ; HILFIKER, J ; SCHUBERT, M ; WOOLLAM, J. A

Thin solid films, 2010-01, Vol.518 (7), p.1830-1834 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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6
Optical Constants Determination of Pseudomorphic Si1-XGex Layers on Si(001), with 0<x<0.54
Material Type:
Ata de Congresso
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Optical Constants Determination of Pseudomorphic Si1-XGex Layers on Si(001), with 0<x<0.54

Nolot, Emmanuel ; Hartmann, Jean-Michel ; Hilfiker, J.

ECS transactions, 2014, Vol.64 (6), p.455-465

The Electrochemical Society, Inc

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7
Vacuum ultra-violet spectroscopic ellipsometry study of single-&#160;and multi-phase nitride protective films
Material Type:
Artigo
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Vacuum ultra-violet spectroscopic ellipsometry study of single- and multi-phase nitride protective films

Aouadi, S M ; Bohnhoff, A ; Amriou, T ; Williams, M ; Hilfiker, J N ; Singh, N ; Woollam, J A

Journal of physics. Condensed matter, 2006-08, Vol.18 (32), p.S1691-S1701 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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8
Physical and chemical properties of sputter-deposited TaCxNy films
Material Type:
Artigo
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Physical and chemical properties of sputter-deposited TaCxNy films

Aouadi, S M ; Zhang, Y ; Basnyat, P ; Stadler, S ; Filip, P ; Williams, M ; Hilfiker, J N ; Singh, N ; Woollam, J A

Journal of physics. Condensed matter, 2006-02, Vol.18 (6), p.1977-1986 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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9
Ellipsometry characterization of bulk acoustic wave filters
Material Type:
Artigo
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Ellipsometry characterization of bulk acoustic wave filters

Nolot, E. ; Lefevre, A. ; Hilfiker, J. N.

Physica status solidi. C, 2008-05, Vol.5 (5), p.1168-1171 [Periódico revisado por pares]

Berlin: WILEY-VCH Verlag

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10
Optical properties of bulk and thin-film SrTiO3 on Si and Pt
Material Type:
Artigo
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Optical properties of bulk and thin-film SrTiO3 on Si and Pt

Zollner, Stefan ; Demkov, A. A. ; Liu, R. ; Fejes, P. L. ; Gregory, R. B. ; Alluri, Prasad ; Curless, J. A. ; Yu, Z. ; Ramdani, J. ; Droopad, R. ; Tiwald, T. E. ; Hilfiker, J. N. ; Woollam, J. A.

Journal of vacuum science & technology. B, Microelectronics and nanometer structures processing, measurement and phenomena, 2000-07, Vol.18 (4), p.2242-2254 [Periódico revisado por pares]

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