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Refinado por: Nome da Publicação: Resumos remover data de publicação: 1989Até2000 remover autor: Fantini, M remover
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Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício
Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício
Material Type:
Artigo de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Propriedades químicas, morfológicas e estruturais de filmes finos amorfos hidrogenados de oxinitreto de silício

Wanderla Luis Scopel R R Cuzinatto; Manfredo Harri Tabacniks; Márcia Carvalho de Abreu Fantini; Marco Isaías Alayo Chávez 1971-; I Pereira; Reunião da Sociedade Brasileira de Cristalografia (15. 2000 Campinas)

Resumos Campinas : LNLS, 2000

Campinas LNLS 2000

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Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos
Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos
Material Type:
Dissertação de Mestrado 		Adicionar ao Meu Espaço

Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos

Manuel Alfredo Espinoza Sanchez Márcia Carvalho de Abreu Fantini

2000

Localização: IF - Instituto de Física    (548.83 E77m M Ex.2 )(Acessar)

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  1. Reunião da Sociedade Brasileira de Cristalografia
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Neste Assunto:

  1. Cristalografia
  2. Difração Por Raios X

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