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1
Study of type I lyomesophases by x-ray diffraction
Study of type I lyomesophases by x-ray diffraction
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Study of type I lyomesophases by x-ray diffraction

Antônio Martins Figueiredo Neto Lia Queiroz do Amaral

São Paulo IFUSP 1980

Acesso online

2
Study of orientational effects in a type II lyomesophase
Study of orientational effects in a type II lyomesophase
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Study of orientational effects in a type II lyomesophase

Lia Queiroz do Amaral

São Paulo IFUSP 1980

Acesso online

3
SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films a brief review of SAXS theories
SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films a brief review of SAXS theories
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films a brief review of SAXS theories

Mauro Sérgio Dorsa Cattani Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori; Fernanda de Sá Teixeira

São Paulo 2009

Acesso online

4
Análises quantitativas por difração de raios-X em engenharia mineral - aplicação dos métodos de Rietveld e do padrão interno
Análises quantitativas por difração de raios-X em engenharia mineral - aplicação dos métodos de Rietveld e do padrão interno
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Análises quantitativas por difração de raios-X em engenharia mineral - aplicação dos métodos de Rietveld e do padrão interno

Gabriela Campos Fronzaglia Henrique Kahn 1955-

São Paulo EPUSP 2000

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5
On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system
On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

On the high accuracy lattice parameters determination by n-beam diffraction: Theory and application to the InAs quantum dots grown over GaAs(001) substrate system

L H Avanci C M R Remedios; Alain André Quivy; Sergio Luiz Morelhão

São Paulo 2020

Acesso online

6
Suscetibilidade de pastas de cimento ao ataque por sulfatos - método de ensaio acelerado
Suscetibilidade de pastas de cimento ao ataque por sulfatos - método de ensaio acelerado
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Suscetibilidade de pastas de cimento ao ataque por sulfatos - método de ensaio acelerado

Rui Barbosa de Souza Vanderley Moacyr John 1960-

São Paulo EPUSP 2007

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7
Magnetic, structural and cation distribution studies on 'FE''O' center dot 'FE' IND. (2-x)' 'ND' IND. x''O' IND. 3' (x=0.00, 0.02, 0.04, 0.06 and 0.1) nanoparticles
Magnetic, structural and cation distribution studies on 'FE''O' center dot 'FE' IND. (2-x)' 'ND' IND. x''O' IND. 3' (x=0.00, 0.02, 0.04, 0.06 and 0.1) nanoparticles
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Magnetic, structural and cation distribution studies on 'FE''O' center dot 'FE' IND. (2-x)' 'ND' IND. x''O' IND. 3' (x=0.00, 0.02, 0.04, 0.06 and 0.1) nanoparticles

W. W. R. Araujo J. F. D. F Araujo; Cristiano Luis Pinto de Oliveira; Giancarlo Esposito de Souza Brito; Antonio Martins Figueiredo Neto

São Paulo 2019

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8
X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films
X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

X-ray tools for van der waals epitaxy of bismuth telluride topological insulator films

Stefan Kycia Samuel Netzke; Celso I Fornari; Paulo H. O Rappl; Eduardo Abramof; Sergio Luiz Morelhao

São Paulo 2018

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9
SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films a brief review of SAXS theories
SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films a brief review of SAXS theories
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

SAXS structural characterization of nanoheterogeneous conducting thin films a brief review of SAXS theories

Mauro Sérgio Dorsa Cattani Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori; Fernanda de Sá Teixeira

São Paulo 2020

Acesso online

10
Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films
Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films
Material Type:
Relatório Técnico 		Adicionar ao Meu Espaço

Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films

Sergio Luiz Morelhão Stefan Kycia; Samuel Netzke; Celso I Fornari; Paulo H. O Rappl; Eduardo Abramof

Melville 2020

Acesso online

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Deste Autor:

  1. Morelhão, S
  2. Teixeira, F
  3. Salvadori, M
  4. Rappl, P
  5. Netzke, S

Neste Assunto:

  1. Difração Por Raios X
  2. Filmes Finos
  3. Semicondutores
  4. Física
  5. Cristalografia De Raios X

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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