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1	Material Type: Artigo		Automation, Research Technology, and Researchers’ Trajectories: Evidence from Computer Science and Electrical Engineering Furman, Jeffrey L. ; Teodoridis, Florenta Organization science (Providence, R.I.), 2020-03, Vol.31 (2), p.330-354 [Periódico revisado por pares] Linthicum: INFORMS Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Livro		Current themes in engineering technologies : selected papers of the World Congress on Engineering and Computer Science, San Francisco, California, 24-26 October 2007 World Congress on Engineering and Computer Science (2007 : San Francisco, Calif.) Sio-Iong Ao; Mahyar A Amouzegar; Su-shing Chen Melville, N.Y. : American Institute of Physics 2008 Localização: IF - Instituto de Física (MS AIP v.1007 )(Acessar) Localização & Reservas Detalhes Resenhas & Tags Solicitações Mais Opções Prateleira Virtual
3	Material Type: Artigo		A Survey of Convolutional Neural Networks: Analysis, Applications, and Prospects Li, Zewen ; Liu, Fan ; Yang, Wenjie ; Peng, Shouheng ; Zhou, Jun IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2022-12, Vol.33 (12), p.6999-7019 United States: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		A Survey of the Usages of Deep Learning for Natural Language Processing Otter, Daniel W. ; Medina, Julian R. ; Kalita, Jugal K. IEEE transaction on neural networks and learning systems, 2021-02, Vol.32 (2), p.604-624 United States: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		FactSheets: Increasing trust in AI services through supplier's declarations of conformity Arnold, M. ; Bellamy, R. K. E. ; Hind, M. ; Houde, S. ; Mehta, S. ; Mojsilovic, A. ; Nair, R. ; Ramamurthy, K. Natesan ; Olteanu, A. ; Piorkowski, D. ; Reimer, D. ; Richards, J. ; Tsay, J. ; Varshney, K. R. IBM journal of research and development, 2019-07, Vol.63 (4/5), p.6-6:13 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Livro		Dictionary of computer science, engineering, and technology Phillip A Laplante ed Boca Raton, Flor. CRC Press c2001 Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (R D554 e.1 )(Acessar) Localização & Reservas Detalhes Resenhas & Tags Solicitações Mais Opções Prateleira Virtual
7	Material Type: Livro		Person Re-Identification Gong, Shaogang ; Cristani, Marco ; Yan, Shuicheng ; Loy, Chen Change Cristani, Marco ; Yan, Shuicheng ; Gong, Shaogang ; Loy, Chen Change ; Cristani, Marco ; Yan, Shuicheng ; Loy, Chen Change ; Gong, Shaogang ; Gong, Shaogang London: Springer Nature 2014 Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Viewing computer science through citation analysis: Salton and Bergmark Redux Devarakonda, Sitaram ; Korobskiy, Dmitriy ; Warnow, Tandy ; Chacko, George Scientometrics, 2020-10, Vol.125 (1), p.271-287 [Periódico revisado por pares] Cham: Springer International Publishing Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		AI Fairness 360: An extensible toolkit for detecting and mitigating algorithmic bias Bellamy, R. K. E. ; Dey, K. ; Hind, M. ; Hoffman, S. C. ; Houde, S. ; Kannan, K. ; Lohia, P. ; Martino, J. ; Mehta, S. ; Mojsilovic, A. ; Nagar, S. ; Ramamurthy, K. Natesan ; Richards, J. ; Saha, D. ; Sattigeri, P. ; Singh, M. ; Varshney, K. R. ; Zhang, Y. IBM journal of research and development, 2019-07, Vol.63 (4/5), p.4-4:15 [Periódico revisado por pares] Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		Does double‐blind peer review reduce bias? Evidence from a top computer science conference Sun, Mengyi ; Barry Danfa, Jainabou ; Teplitskiy, Misha Journal of the American Society for Information Science and Technology, 2022-06, Vol.73 (6), p.811-819 [Periódico revisado por pares] Hoboken, USA: John Wiley & Sons, Inc Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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