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Refinado por: Base de dados/Biblioteca: Science Citation Index Expanded (Web of Science) remover Nome da Publicação: Japanese Journal Of Applied Physics, Part 1: Regular Papers And Short Notes And Review Papers remover
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New Method for the Complete Optical Analysis of Thin Films Nonuniform in Optical Parameters
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New Method for the Complete Optical Analysis of Thin Films Nonuniform in Optical Parameters

Ohlídal, Miloslav ; Ohlídal, Ivan ; Klapetek, Petr ; Jákl, Miloš ; Čudek, Vladimír ; Eliáš, Marek

Japanese Journal of Applied Physics, 2003, Vol.42 (Part 1, No. 7B), p.4760-4763 [Periódico revisado por pares]

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