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On Average Performance and Stability of Economic Model Predictive Control
On Average Performance and Stability of Economic Model Predictive Control
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On Average Performance and Stability of Economic Model Predictive Control

Angeli, D. ; Amrit, R. ; Rawlings, J. B.

IEEE transactions on automatic control, 2012-07, Vol.57 (7), p.1615-1626 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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Repetitive Process Control of Additive Manufacturing With Application to Laser Metal Deposition
Repetitive Process Control of Additive Manufacturing With Application to Laser Metal Deposition
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Repetitive Process Control of Additive Manufacturing With Application to Laser Metal Deposition

Sammons, Patrick M. ; Gegel, Michelle L. ; Bristow, Douglas A. ; Landers, Robert G.

IEEE transactions on control systems technology, 2019-03, Vol.27 (2), p.566-575 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Cybersecurity for Industrial Control Systems: SCADA, DCS, PLC, HMI, and SIS
Cybersecurity for Industrial Control Systems: SCADA, DCS, PLC, HMI, and SIS
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Cybersecurity for Industrial Control Systems: SCADA, DCS, PLC, HMI, and SIS

Macaulay, Tyson Singer, Bryan L

United Kingdom: Auerbach Publications 2016

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Model-Free Adaptive Iterative Learning Control Method for the Czochralski Silicon Monocrystalline Batch Process
Model-Free Adaptive Iterative Learning Control Method for the Czochralski Silicon Monocrystalline Batch Process
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Model-Free Adaptive Iterative Learning Control Method for the Czochralski Silicon Monocrystalline Batch Process

Ren, Jun-Chao ; Liu, Ding ; Wan, Yin

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2021-08, Vol.34 (3), p.398-407 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Fault Detection for Rolling-Element Bearings Using Multivariate Statistical Process Control Methods
Fault Detection for Rolling-Element Bearings Using Multivariate Statistical Process Control Methods
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Fault Detection for Rolling-Element Bearings Using Multivariate Statistical Process Control Methods

Jin, Xiaohang ; Fan, Jicong ; Chow, Tommy W. S.

IEEE transactions on instrumentation and measurement, 2019-09, Vol.68 (9), p.3128-3136 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
An industrial control loop decoupler for process control applications
An industrial control loop decoupler for process control applications
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An industrial control loop decoupler for process control applications

Hägglund, Tore ; Shinde, Sumit ; Theorin, Alfred ; Thomsen, Ulf

Control engineering practice, 2022-06, Vol.123 (June), p.105138, Article 105138 [Periódico revisado por pares]

Elsevier Ltd

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7
Generalized Reconstruction-Based Contributions for Output-Relevant Fault Diagnosis With Application to the Tennessee Eastman Process
Generalized Reconstruction-Based Contributions for Output-Relevant Fault Diagnosis With Application to the Tennessee Eastman Process
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Generalized Reconstruction-Based Contributions for Output-Relevant Fault Diagnosis With Application to the Tennessee Eastman Process

Gang Li ; Alcala, C. F. ; Qin, S. J. ; Donghua Zhou

IEEE transactions on control systems technology, 2011-09, Vol.19 (5), p.1114-1127 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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8
Quantitative Tuning of Active Disturbance Rejection Controller for FOPTD Model With Application to Power Plant Control
Quantitative Tuning of Active Disturbance Rejection Controller for FOPTD Model With Application to Power Plant Control
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Quantitative Tuning of Active Disturbance Rejection Controller for FOPTD Model With Application to Power Plant Control

Sun, Li ; Xue, Wenchao ; Li, Donghai ; Zhu, Hongxia ; Su, Zhi-gang

IEEE transactions on industrial electronics (1982), 2022-01, Vol.69 (1), p.805-815 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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9
An Investigation of Edge Bead Removal Width Variability, Effects and Process Control in Photolithographic Manufacturing
An Investigation of Edge Bead Removal Width Variability, Effects and Process Control in Photolithographic Manufacturing
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An Investigation of Edge Bead Removal Width Variability, Effects and Process Control in Photolithographic Manufacturing

Reiter, Tamas ; McCann, Michael ; Connolly, James ; Haughey, Sean

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2022-02, Vol.35 (1), p.60-66 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
GAGAN: Global Attention Generative Adversarial Networks for Semiconductor Advanced Process Control
GAGAN: Global Attention Generative Adversarial Networks for Semiconductor Advanced Process Control
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GAGAN: Global Attention Generative Adversarial Networks for Semiconductor Advanced Process Control

Hsiao, Hsiu-Hui ; Wang, Kung-Jeng

IEEE transactions on semiconductor manufacturing, 2024-02, Vol.37 (1), p.115-123 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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