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A Reconfigurable Dual-Frequency Narrowband CMOS LNA Using Phase-Change RF Switches
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A Reconfigurable Dual-Frequency Narrowband CMOS LNA Using Phase-Change RF Switches

Singh, Rahul ; Slovin, Gregory ; Min Xu ; Schlesinger, T. E. ; Bain, James A. ; Paramesh, Jeyanandh

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2017-11, Vol.65 (11), p.4689-4702 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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2
Design Criteria in Sizing Phase-Change RF Switches
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Design Criteria in Sizing Phase-Change RF Switches

Slovin, Gregory ; Min Xu ; Singh, Rahul ; Schlesinger, T. E. ; Paramesh, Jeyanandh ; Bain, James A.

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2017-11, Vol.65 (11), p.4531-4540 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Cadmium zinc telluride and its use as a nuclear radiation detector material
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Cadmium zinc telluride and its use as a nuclear radiation detector material

Schlesinger, T.E ; Toney, J.E ; Yoon, H ; Lee, E.Y ; Brunett, B.A ; Franks, L ; James, R.B

Materials science & engineering. R, Reports : a review journal, 2001-04, Vol.32 (4), p.103-189 [Periódico revisado por pares]

Lausanne: Elsevier B.V

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4
AlN Barriers for Capacitance Reduction in Phase-Change RF Switches
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AlN Barriers for Capacitance Reduction in Phase-Change RF Switches

Slovin, Gregory ; Min Xu ; Paramesh, Jeyanandh ; Schlesinger, T. E. ; Bain, James A.

IEEE electron device letters, 2016-05, Vol.37 (5), p.568-571 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Thermometry of a high temperature high speed micro heater
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Thermometry of a high temperature high speed micro heater

Xu, M. ; Slovin, G. ; Paramesh, J. ; Schlesinger, T. E. ; Bain, J. A.

Review of scientific instruments, 2016-02, Vol.87 (2), p.024904-024904 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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6
Three-Terminal Probe Reconfigurable Phase-Change Material Switches
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Three-Terminal Probe Reconfigurable Phase-Change Material Switches

Hsinyi Lo ; Engkeong Chua ; Jian Cheng Huang ; Chun Chia Tan ; Cheng-Yuan Wen ; Rong Zhao ; Luping Shi ; Chong Tow Chong ; Paramesh, J. ; Schlesinger, T.E. ; Bain, J.A.

IEEE transactions on electron devices, 2010-01, Vol.57 (1), p.312-320 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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7
Magnetoresistance in granular films formed by CoFe and phase change material
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Magnetoresistance in granular films formed by CoFe and phase change material

Huang, J. C. ; Song, W. D. ; Bain, J. A. ; Yang, Y. ; Shi, L. P. ; Schlesinger, T. E. ; Chong, T. C. ; Hui, H. K.

Applied physics. A, Materials science & processing, 2013-10, Vol.113 (1), p.221-229 [Periódico revisado por pares]

Berlin/Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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8
Evanescent Coupling Between Dielectric and Plasmonic Waveguides for HAMR Applications
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Evanescent Coupling Between Dielectric and Plasmonic Waveguides for HAMR Applications

Kong, Yunchuan ; Chabalko, Matt ; Black, Eric ; Powell, Stephen ; Bain, James A. ; Schlesinger, T. E. ; Luo, Yi

IEEE transactions on magnetics, 2011-10, Vol.47 (10), p.2364-2367

New York, NY: IEEE

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9
Magnetic Decay at Elevated Temperature Relevant to Heat-Assisted Magnetic Recording
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Magnetic Decay at Elevated Temperature Relevant to Heat-Assisted Magnetic Recording

Knight, B.R. ; Bain, J.A. ; Schlesinger, T.E.

IEEE transactions on magnetics, 2009-02, Vol.45 (2), p.883-888

New York, NY: IEEE

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10
Thermal Management in Heat-Assisted Magnetic Recording
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Thermal Management in Heat-Assisted Magnetic Recording

Black, E.J. ; Bain, J.A. ; Schlesinger, T.E.

IEEE transactions on magnetics, 2007-01, Vol.43 (1), p.62-66

New York, NY: IEEE

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