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Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films
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Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Optical constants and thickness determination of very thin amorphous semiconductor films

Ivan Emílio Chambouleyron S. D Ventura; Ernesto Julian Goldberg Birgin; José Mário Martínez

Journal of Applied Physics Melville, NY v. 92, n. 6, p. 3093-3102, 2002

Melville, NY 2002

Localização: IME - Inst. Matemática e Estatística    (PROD-1297047 )(Acessar)

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Ivan Emílio Chambouleyron S. D Ventura; Ernesto Julian Goldberg Birgin; José Mário Martínez

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Deste Autor:

  1. Chambouleyron, I
  2. Birgin, E
  3. Martínez, J
  4. Ventura, S

Neste Assunto:

  1. Algoritmos
  2. Dielétricos
  3. Semicondutores

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

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