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Radiation hardness of different silicon materials after high-energy electron irradiation
Radiation hardness of different silicon materials after high-energy electron irradiation
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Radiation hardness of different silicon materials after high-energy electron irradiation

Dittongo, S. ; Bosisio, L. ; Ciacchi, M. ; Contarato, D. ; D'Auria, G. ; Fretwurst, E. ; Lindström, G.

Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2004-09, Vol.530 (1), p.110-116 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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2
Studies of bulk damage induced in different silicon materials by 900 Mev electron irradiation
Studies of bulk damage induced in different silicon materials by 900 Mev electron irradiation
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Studies of bulk damage induced in different silicon materials by 900 Mev electron irradiation

Dittongo, S. ; Bosisio, L. ; Contarato, D. ; D’Auria, G. ; Fretwurst, E. ; Härkönen, J. ; Lindström, G. ; Tuovinen, E.

Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2005-07, Vol.546 (1), p.300-305 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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3
Processing and first characterization of detectors made with high resistivity n- and p-type Czochralski silicon
Processing and first characterization of detectors made with high resistivity n- and p-type Czochralski silicon
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Processing and first characterization of detectors made with high resistivity n- and p-type Czochralski silicon

Bruzzi, M. ; Bisello, D. ; Borrello, L. ; Borchi, E. ; Boscardin, M. ; Candelori, A. ; Creanza, D. ; Dalla Betta, G.-F. ; DePalma, M. ; Dittongo, S. ; Focardi, E. ; Khomenkov, V. ; Litovchenko, A. ; Macchiolo, A. ; Manna, N. ; Menichelli, D. ; Messineo, A. ; Miglio, S. ; Petasecca, M. ; Piemonte, C. ; Pignatel, G.U. ; Radicci, V. ; Ronchin, S. ; Scaringella, M. ; Segneri, G. ; Sentenac, D. ; Tosi, C. ; Zorzi, N.

Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2005-10, Vol.552 (1), p.20-26 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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4
Functional characterization of a high-gain BJT radiation detector
Functional characterization of a high-gain BJT radiation detector
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Functional characterization of a high-gain BJT radiation detector

Batignani, G. ; Bettarini, S. ; Bondioli, M. ; Boscardin, M. ; Bosisio, L. ; Betta, G.-F.D. ; Dittongo, S. ; Forti, F. ; Giacomini, G. ; Giorgi, M.A. ; Gregori, P. ; Piemonte, C. ; Rachevskaia, I. ; Ronchin, S. ; Zorzi, N.

IEEE transactions on nuclear science, 2005-10, Vol.52 (5), p.1882-1886 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Observation of substrate-type inversion in high-resistivity silicon structures irradiated with high-energy electrons
Observation of substrate-type inversion in high-resistivity silicon structures irradiated with high-energy electrons
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Observation of substrate-type inversion in high-resistivity silicon structures irradiated with high-energy electrons

Bosisio, L. ; Dittongo, S. ; Quai, E. ; Rachevskaia, I.

IEEE transactions on nuclear science, 2003-02, Vol.50 (1), p.219-225 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Characterization of BJT-based particle detectors
Characterization of BJT-based particle detectors
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Characterization of BJT-based particle detectors

PIEMONTE, C ; BATIGNANI, G ; BETTARINI, S ; BONDIOLI, M ; BOSCARDIN, M ; BOSISIO, L ; DALLABETTA, G ; DITTONGO, S ; FORTI, F ; GIORGI, M

Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2004-12, Vol.535 (1-2), p.433-437 [Periódico revisado por pares]

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7
Characterization of BJT-based particle detectors
Characterization of BJT-based particle detectors
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Characterization of BJT-based particle detectors

Piemonte, C. ; Batignani, G. ; Bettarini, S. ; Bondioli, M. ; Boscardin, M. ; Bosisio, L. ; Dalla Betta, G.-F. ; Dittongo, S. ; Forti, F. ; Giorgi, M. ; Gregori, P. ; Rachevskaia, I. ; Ronchin, S. ; Zorzi, N.

Nuclear instruments & methods in physics research. Section A, Accelerators, spectrometers, detectors and associated equipment, 2004-12, Vol.535 (1), p.433-437 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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8
Study of the radiation hardness of irradiated AToM front-end chips of the BaBar silicon vertex tracker
Study of the radiation hardness of irradiated AToM front-end chips of the BaBar silicon vertex tracker
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Study of the radiation hardness of irradiated AToM front-end chips of the BaBar silicon vertex tracker

Bettarini, S. ; Bondioli, M. ; Bosisio, L. ; Calderini, G. ; Dittongo, S. ; Forti, F. ; Giorgi, M.A.

IEEE transactions on nuclear science, 2006-04, Vol.53 (2), p.584-588 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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High-energy electron irradiation of different silicon materials
High-energy electron irradiation of different silicon materials
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High-energy electron irradiation of different silicon materials

Dittongo, S. ; Bosisio, L. ; Ciacchi, M. ; Contarato, D. ; D'Auria, G. ; Fretwurst, E. ; Lindstrom, G.

IEEE transactions on nuclear science, 2004-10, Vol.51 (5), p.2794-2798 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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10
Measurement of the charge collection efficiency after heavy non-uniform irradiation in BABAR silicon detectors
Measurement of the charge collection efficiency after heavy non-uniform irradiation in BABAR silicon detectors
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Measurement of the charge collection efficiency after heavy non-uniform irradiation in BABAR silicon detectors

Bettarini, S. ; Bondioli, M. ; Bosisio, L. ; Calderini, G. ; Campagnari, C. ; Dittongo, S. ; Forti, F. ; Giorgi, M.A. ; Marchiori, G. ; Rizzo, G.

IEEE transactions on nuclear science, 2005-08, Vol.52 (4), p.1054-1060 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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