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Non-contact atomic force microscope with a PZT cantilever used for deflection sensing, direct oscillation and feedback actuation
Non-contact atomic force microscope with a PZT cantilever used for deflection sensing, direct oscillation and feedback actuation
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Non-contact atomic force microscope with a PZT cantilever used for deflection sensing, direct oscillation and feedback actuation

Miyahara, Y. ; Deschler, M. ; Fujii, T. ; Watanabe, S. ; Bleuler, H.

Applied surface science, 2002-03, Vol.188 (3), p.450-455 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2
Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: investigations of local optical and electrical properties
Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: investigations of local optical and electrical properties
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Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: investigations of local optical and electrical properties

Satoh, N. ; Kobayashi, K. ; Watanabe, S. ; Fujii, T. ; Horiuchi, T. ; Yamada, H. ; Matsushige, K.

Applied surface science, 2002-03, Vol.188 (3), p.425-429 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
Structural fluctuation of SiO2 network at the interface with Si
Structural fluctuation of SiO2 network at the interface with Si
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Structural fluctuation of SiO2 network at the interface with Si

Sugita, Y. ; Watanabe, S. ; Awaji, N. ; Komiya, S.

Applied surface science, 1996-07, Vol.100-101, p.268-271 [Periódico revisado por pares]

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4
Lead zirconate titanate cantilever for noncontact atomic force microscopy
Lead zirconate titanate cantilever for noncontact atomic force microscopy
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Lead zirconate titanate cantilever for noncontact atomic force microscopy

Miyahara, Y ; Fujii, T ; Watanabe, S ; Tonoli, A ; Carabelli, S ; Yamada, H ; Bleuler, H

Applied surface science, 1999-02, Vol.140 (3), p.428-431 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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5
Infrared and Raman study of H-terminated Si(100) surfaces produced by etching solutions
Infrared and Raman study of H-terminated Si(100) surfaces produced by etching solutions
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Infrared and Raman study of H-terminated Si(100) surfaces produced by etching solutions

Miyata, N. ; Watanabe, S. ; Okamura, S.

Applied surface science, 1997-06, Vol.117, p.26-31 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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6
Development of low temperature ultrahigh vacuum noncontact atomic force microscope with PZT cantilever
Development of low temperature ultrahigh vacuum noncontact atomic force microscope with PZT cantilever
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Development of low temperature ultrahigh vacuum noncontact atomic force microscope with PZT cantilever

Suehira, N. ; Tomiyoshi, Y. ; Sugiyama, K. ; Watanabe, S. ; Fujii, T. ; Sugawara, Y. ; Morita, S.

Applied surface science, 2000-04, Vol.157 (4), p.343-348 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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7
Isotopic shift and broadening of Si–D bending vibration on Si(111)
Isotopic shift and broadening of Si–D bending vibration on Si(111)
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Isotopic shift and broadening of Si–D bending vibration on Si(111)

Watanabe, Satoru

Applied surface science, 2000-08, Vol.162, p.146-151 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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8
Step structure on H/Si formed in hot water as revealed with angle-resolved polarized infrared spectroscopy
Step structure on H/Si formed in hot water as revealed with angle-resolved polarized infrared spectroscopy
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Step structure on H/Si formed in hot water as revealed with angle-resolved polarized infrared spectroscopy

Watanabe, Satoru

Applied surface science, 1998-06, Vol.130, p.231-236 [Periódico revisado por pares]

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9
Infrared observation of the hydrogenation of Si surface in deoxygenated water
Infrared observation of the hydrogenation of Si surface in deoxygenated water
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Infrared observation of the hydrogenation of Si surface in deoxygenated water

Watanabe, Satoru ; Sugita, Yoshihiro

Applied surface science, 1996-11, Vol.107 (1-4), p.90-94 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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10
Determination of nitrogen-radical flux by nitridation of Al
Determination of nitrogen-radical flux by nitridation of Al
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Determination of nitrogen-radical flux by nitridation of Al

Watanabe, Shigeyuki ; Nozoye, Hisakazu

Applied surface science, 1997-04, Vol.113, p.618-621 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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