Measuring doping profiles of silicon detectors with a custom-designed probe station

Treberspurg, W ; Bergauer, T ; Dragicevic, M ; Hrubec, J ; Krammer, M ; Valentan, M

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Comparing Spreading Resistance Profiling and C-V characterisation to identify defects in silicon sensors

Dragicevic, M ; Bergauer, T ; Hrubec, J ; Krammer, M ; Treberspurg, W ; Valentan, M

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Optimising the strip geometry for very fine pitch silicon strip sensors

Dragicevic, M. ; Bergauer, T. ; Dolezal, Z. ; Drasal, Z. ; Friedl, M. ; Hänsel, S. ; Hrubec, J. ; Irmler, C. ; Kiesenhofer, W. ; Krammer, M. ; Kvasnicka, P.

Elsevier B.V

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Simulation of electrical parameters of new design of SLHC silicon sensors for large radii

Militaru, O. ; Bergauer, T. ; Bergholz, M. ; Blüm, P. ; de Boer, W. ; Borras, K. ; Cortina Gil, E. ; Dierlamm, A. ; Dragicevic, M. ; Eckstein, D. ; Erfle, J. ; Fernandez, M. ; Feld, L. ; Frey, M. ; Friedl, M. ; Fretwurst, E. ; Gaubas, E. ; Gonzalez, F.J. ; Grabiec, P. ; Grodner, M. ; Hartmann, F. ; Hänsel, S. ; Hoffmann, K.-H. ; Hrubec, J. ; Jaramillo, R. ; Karpinski, W. ; Kazukauskas, V. ; Klein, K. ; Khomenkov, V. ; Klanner, R. ; Krammer, M. ; Kucharski, K. ; Lange, W. ; Lemaitre, V. ; Moya, D. ; Marczewski, J. ; Mussgiller, A. ; Rodrigo, T. ; Müller, T. ; Sammet, J. ; Schleper, P. ; Schwandt, J. ; Simonis, H.-J. ; Srivastava, A. ; Steinbrück, G. ; Tomaszewski, D. ; Sakalauskas, S. ; Storasta, J. ; Vaitkus, J. ; Lopez Virto, A. ; Vila, I. ; Zasinas, E.

Elsevier B.V

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Review of the development of diamond radiation sensors

Adam, W ; Bauer, C ; Berdermann, E ; Bergonzo, P ; Bogani, F ; Borchi, E ; Brambilla, A ; Bruzzi, M ; Colledani, C ; Conway, J ; Dabrowski, W ; Delpierre, P ; Deneuville, A ; Dulinski, W ; van Eijk, B ; Fallou, A ; Fizzotti, F ; Foulon, F ; Friedl, M ; Gan, K.K ; Gheeraert, E ; Grigoriev, E ; Hallewell, G ; Hall-Wilton, R ; Han, S ; Hartjes, F ; Hrubec, J ; Husson, D ; Kagan, H ; Kania, D ; Kaplon, J ; Karl, C ; Kass, R ; Knöpfle, K.T ; Krammer, M ; Logiudice, A ; Lu, R ; Manfredi, P.F ; Manfredotti, C ; Marshall, R.D ; Meier, D ; Mishina, M ; Oh, A ; Pan, L.S ; Palmieri, V.G ; Pernicka, M ; Peitz, A ; Pirollo, S ; Polesello, P ; Pretzl, K ; Re, V ; Riester, J.L ; Roe, S ; Roff, D ; Rudge, A ; Schnetzer, S ; Sciortino, S ; Speziali, V ; Stelzer, H ; Stone, R ; Tapper, R.J ; Tesarek, R ; Thomson, G.B ; Trawick, M ; Trischuk, W ; Vittone, E ; Walsh, A.M ; Wedenig, R ; Weilhammer, P ; Ziock, H ; Zoeller, M

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Status of the R&D activity on diamond particle detectors

Adam, W. ; Bellini, B. ; Berdermann, E. ; Bergonzo, P. ; de Boer, W. ; Bogani, F. ; Borchi, E. ; Brambilla, A. ; Bruzzi, M. ; Colledani, C. ; Conway, J. ; D'Angelo, P. ; Dabrowski, W. ; Delpierre, P. ; Doroshenko, J. ; Dulinski, W. ; van Eijk, B. ; Fallou, A. ; Fischer, P. ; Fizzotti, F. ; Furetta, C. ; Gan, K.K. ; Ghodbane, N. ; Grigoriev, E. ; Hallewell, G. ; Han, S. ; Hartjes, F. ; Hrubec, J. ; Husson, D. ; Kagan, H. ; Kaplon, J. ; Karl, C. ; Kass, R. ; Keil, M. ; Knöpfle, K.T. ; Koeth, T. ; Krammer, M. ; Logiudice, A. ; Lu, R. ; mac Lynne, L. ; Manfredotti, C. ; Marshall, R.D. ; Meier, D. ; Menichelli, D. ; Meuser, S. ; Mishina, M. ; Moroni, L. ; Noomen, J. ; Oh, A. ; Perera, L. ; Pernicka, M. ; Polesello, P. ; Potenza, R. ; Riester, J.L. ; Roe, S. ; Rudge, A. ; Sala, S. ; Sampietro, M. ; Schnetzer, S. ; Sciortino, S. ; Stelzer, H. ; Stone, R. ; Sutera, C. ; Trischuk, W. ; Tromson, D. ; Tuve, C. ; Weilhammer, P. ; Wermes, N. ; Wetstein, M. ; Zeuner, W. ; Zoeller, M.

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Radiation tolerance of CVD diamond detectors for pions and protons

Adam, W ; Berdermann, E ; Bergonzo, P ; Bertuccio, G ; Bogani, F ; Borchi, E ; Brambilla, A ; Bruzzi, M ; Colledani, C ; Conway, J ; D’Angelo, P ; Dabrowski, W ; Delpierre, P ; Deneuville, A ; Dulinski, W ; van Eijk, B ; Fallou, A ; Fizzotti, F ; Foulon, F ; Friedl, M ; Gan, K.K ; Gheeraert, E ; Hallewell, G ; Han, S ; Hartjes, F ; Hrubec, J ; Husson, D ; Kagan, H ; Kania, D ; Kaplon, J ; Kass, R ; Koeth, T ; Krammer, M ; Logiudice, A ; Lu, R ; mac Lynne, L ; Manfredotti, C ; Meier, D ; Mishina, M ; Moroni, L ; Noomen, J ; Oh, A ; Pan, L.S ; Pernicka, M ; Peitz, A ; Perera, L ; Pirollo, S ; Procario, M ; Riester, J.L ; Roe, S ; Rousseau, L ; Rudge, A ; Russ, J ; Sala, S ; Sampietro, M ; Schnetzer, S ; Sciortino, S ; Stelzer, H ; Stone, R ; Suter, B ; Tapper, R.J ; Tesarek, R ; Trischuk, W ; Tromson, D ; Vittone, E ; Walsh, A.M ; Wedenig, R ; Weilhammer, P ; Wetstein, M ; White, C ; Zeuner, W ; Zoeller, M

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P-Type Silicon Strip Sensors for the new CMS Tracker at HL-LHC

König, A. ; Steininger, H. ; Moreels, L. ; Bondu, O. ; Francois, B. ; Komm, M. ; Piotrzkowski, K. ; Marono, M. Vidal ; Beliy, N. ; Contardo, D. ; Perries, S. ; Fontaine, J.-Ch ; Ostapchuk, A. ; Rauch, M. ; Asawatangtrakuldee, C. ; Contreras-Campana, C. ; Kleinwort, C. ; Maser, H. ; Muhl, C. ; Pitzl, D. ; Biskop, H. ; Centis-Vignali, M. ; Schleper, P. ; Schmidt, A. ; Steinbrück, G. ; Barth, Ch ; Boer, W. De ; Kornmayer, A. ; Siklér, F. ; Veszprémi, V. ; Loddo, F. ; Silvestris, L. ; Maggi, G. ; Mattia, A. Di ; Ciulli, V. ; Meschini, M. ; Scarlini, E. ; Sguazzoni, G. ; Moroni, L. ; Canio, F. De ; Comotti, D. ; Ratti, L. ; Solestizi, L. Alunni ; Biasini, M. ; Bilei, G.M. ; Manoni, E. ; Postolache, V. ; Ciocci, M.A. ; Ligabue, F. ; Lomtadze, T. ; Ravera, F. ; Echeverria, R. Jaramillo ; Albert, E. ; D'Auria, A. ; Orfanelli, S. ; Petagna, P. ; Rose, P. ; Tropea, P. ; Vasey, F. ; Verlaat, B. ; Zwalinski, L. ; Zhu, D. ; Amsler, C. ; Kilminster, B. ; Lange, C. ; Ngadiuba, J. ; Robmann, P. ; Morton, A. ; Pesaresi, M. ; Garabedian, A. ; Speer, T. ; Chertok, M. ; Squires, M. ; Yohay, R. ; Si, W. ; White, D. ; Jensen, F. ; Burkett, K. ; Chramowicz, J. ; Deptuch, G. ; Berry, D.R. ; Hofman, D.J. ; Gonzalez, I.D. Sandoval ; Hill, C.S. ; Bortoletto, D. ; Jones, M. ; Shi, X. ; Khalil, S. ; Kropivnitskaya, A. ; Mitchell, T. ; Skhirtladze, N. ; Fangmeier, C. ; Malik, S. ; Iashvili, I. ; Kharchilava, A. ; Nguyen, D. ; Parker, A. ; Tucker, J. ; Zientek, M. ; Eusebi, R.

Bristol: IOP Publishing

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