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Silicon detector for a Compton camera in nuclear medical imaging
Silicon detector for a Compton camera in nuclear medical imaging
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Silicon detector for a Compton camera in nuclear medical imaging

Meier, D. ; Czermak, A. ; Jalocha, P. ; Sowicki, B. ; Kowal, M. ; Dulinski, W. ; Maehlum, G. ; Nygard, E. ; Yoshioka, K. ; Fuster, J. ; Lacasta, C. ; Mikuz, M. ; Roe, S. ; Weilhammer, P. ; Hua, C.-H. ; Park, S.-J. ; Wildermann, S.J. ; Zhang, L. ; Clinthorne, N.H. ; Rogers, W.L.

IEEE transactions on nuclear science, 2002-06, Vol.49 (3), p.812-816 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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A new microstrip detector with double-sided readout
A new microstrip detector with double-sided readout
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A new microstrip detector with double-sided readout

Avset, B.S. ; Evensen, L. ; Chabaud, V. ; Dijkstra, H. ; Horisberger, R. ; Hubbeling, L. ; Maehlum, G. ; Peisert, A. ; Roditi, I. ; Weilhammer, P. ; Czermak, A. ; Jalocha, P. ; Turala, M. ; Bambade, P. ; Dulinski, W. ; Turchetta, R. ; Schaeffer, M. ; Battaglia, M. ; Hietanen, I. ; Tuuva, T.

IEEE Transactions on Nuclear Science, 1990-06, Vol.37 (3), p.1153-1161 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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3
Recent development of detectors with integrated capacitors and polysilicon resistors
Recent development of detectors with integrated capacitors and polysilicon resistors
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Recent development of detectors with integrated capacitors and polysilicon resistors

Evensen, L. ; Hansen, T.E. ; Horisberger, R. ; Hubbeling, L. ; Kaukouen, H. ; Maehlum, G. ; Piesert, A. ; Tuuva, T. ; Weilhammer, P. ; Zalewska, A.

IEEE transactions on nuclear science, 1988-02, Vol.35 (1), p.428-431 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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4
Radiation hardness of Si strip detectors with integrated coupling capacitors
Radiation hardness of Si strip detectors with integrated coupling capacitors
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Radiation hardness of Si strip detectors with integrated coupling capacitors

Dijkstra, H. ; Horisberger, R. ; Hubbeling, L. ; Maehlum, G. ; Peisert, A. ; Weilhammer, P. ; Tuuva, T. ; Evensen, L.

IEEE transactions on nuclear science, 1989-02, Vol.36 (1), p.591-592 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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