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Characterization of Silicon Photomultipliers for nEXO
Characterization of Silicon Photomultipliers for nEXO
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Characterization of Silicon Photomultipliers for nEXO

Ostrovskiy, I. ; Retiere, F. ; Auty, D. ; Dalmasson, J. ; Didberidze, T. ; DeVoe, R. ; Gratta, G. ; Huth, L. ; James, L. ; Lupin-Jimenez, L. ; Ohmart, N. ; Piepke, A.

IEEE transactions on nuclear science, 2015-08, Vol.62 (4), p.1825-1836 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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VUV-Sensitive Silicon Photomultipliers for Xenon Scintillation Light Detection in nEXO
VUV-Sensitive Silicon Photomultipliers for Xenon Scintillation Light Detection in nEXO
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VUV-Sensitive Silicon Photomultipliers for Xenon Scintillation Light Detection in nEXO

Jamil, A. ; Ziegler, T. ; Hufschmidt, P. ; Li, G. ; Lupin-Jimenez, L. ; Michel, T. ; Schneider, J. ; Alamre, A. ; Anton, G. ; Arnquist, I. J. ; Badhrees, I. ; Beck, D. ; Belov, V. ; Bhatta, T. ; Brodsky, J. P. ; Brown, E. ; Burenkov, A. ; Chiu, M. ; Coon, M. ; Cote, M. ; Cree, W. ; Dalmasson, J. ; Daniels, T. ; Darroch, L. ; Delaquis, S. ; Mesrobian-Kabakian, A. Der ; Dilling, J. ; Ding, Y. Y. ; Echevers, J. ; Fabris, L. ; Fairbank, D. ; Farine, J. ; Fontaine, R. ; Fudenberg, D. ; Gallina, G. ; Gornea, R. ; Gratta, G. ; Hansen, E. V. ; Harris, D. ; Hasan, M. ; Heffner, M. ; HoBl, J. ; Hoppe, E. W. ; House, A. ; Hughes, M. ; Ito, Y. ; Iverson, A. ; Jiang, X. S. ; Karelin, A. ; Kaufman, L. J. ; Kravitz, S. ; Kumar, K. S. ; Lan, Y. ; Larson, A. ; Leonard, D. S. ; Li, Z. ; Licciardi, C. ; Lin, Y. H. ; Lv, P. ; MacLellan, R. ; Mong, B. ; Newby, R. J. ; Njoya, O. ; Odian, A. ; Oriunno, M. ; Ortega, G. S. ; Parent, S. ; Piepke, A. ; Pratte, J.-F. ; Qiu, D. ; Raguzin, E. ; Rao, T. ; Robinson, A. ; Rowson, P. C. ; Saldanha, R. ; Sangiorgio, S. ; Schubert, A. ; Skarpaas, K. ; Stekhanov, V. ; Stiegler, T. ; Sun, X. L. ; Todd, J. ; Tolba, T. ; Tsang, R. ; Tsang, T. ; Veenstra, B. ; Veeraraghavan, V. ; Visser, G. ; Vuilleumier, J.-L. ; Wang, Q. ; Weber, M. ; Wen, L. J. ; Wichoski, U. ; Wrede, G. ; Wu, S. X. ; Wu, W. H. ; Xia, Q. ; Yen, Y.-R. ; Zhang, X. ; Zhou, Y.

IEEE transactions on nuclear science, 2018-11, Vol.65 (11), p.2823-2833 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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3
Design, Manufacture and Temperature Characterization of Screen-Printed Acoustic Sensors for Monitoring the Release of Fission Gases in Experimental Fuel Rods of the Jules Horowitz Reactor
Design, Manufacture and Temperature Characterization of Screen-Printed Acoustic Sensors for Monitoring the Release of Fission Gases in Experimental Fuel Rods of the Jules Horowitz Reactor
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Design, Manufacture and Temperature Characterization of Screen-Printed Acoustic Sensors for Monitoring the Release of Fission Gases in Experimental Fuel Rods of the Jules Horowitz Reactor

Baudry, F. ; Rosenkrantz, E. ; Combette, P. ; Fourmentel, D. ; Destouches, C. ; Bonzon, P. V. ; Paumel, K. ; Ferrandis, J. Y.

IEEE transactions on nuclear science, 2024-05, Vol.71 (5), p.1100-1108 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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4
Position Reconstruction in a Dual Phase Xenon Scintillation Detector
Position Reconstruction in a Dual Phase Xenon Scintillation Detector
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Position Reconstruction in a Dual Phase Xenon Scintillation Detector

Solovov, V. N. ; Belov, V. A. ; Akimov, D. Y. ; Araujo, H. M. ; Barnes, E. J. ; Burenkov, A. A. ; Chepel, V. ; Currie, A. ; DeViveiros, L. ; Edwards, B. ; Ghag, C. ; Hollingsworth, A. ; Horn, M. ; Kalmus, G. E. ; Kobyakin, A. S. ; Kovalenko, A. G. ; Lebedenko, V. N. ; Lindote, A. ; Lopes, M. I. ; Luscher, R. ; Majewski, P. ; Murphy, A. S. J. ; Neves, F. ; Paling, S. M. ; Pinto da Cunha, J. ; Preece, R. ; Quenby, J. J. ; Reichhart, L. ; Scovell, P. R. ; Silva, C. ; Smith, N. J. T. ; Smith, P. F. ; Stekhanov, V. N. ; Sumner, T. J. ; Thorne, C. ; Walker, R. J.

IEEE transactions on nuclear science, 2012-12, Vol.59 (6), p.3286-3293 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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5
Heavy Ion Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Bias and Energy Deposition Dependence
Heavy Ion Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Bias and Energy Deposition Dependence
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Heavy Ion Induced Degradation in SiC Schottky Diodes: Bias and Energy Deposition Dependence

Javanainen, Arto ; Galloway, Kenneth F. ; Nicklaw, Christopher ; Bosser, Alexandre L. ; Ferlet-Cavrois, Veronique ; Lauenstein, Jean-Marie ; Pintacuda, Francesco ; Reed, Robert A. ; Schrimpf, Ronald D. ; Weller, Robert A. ; Virtanen, Ari

IEEE transactions on nuclear science, 2017-01, Vol.64 (1), p.415-420 [Periódico revisado por pares]

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6
Testing of a line driver with configurable pre-emphasis on lossy transmission lines
Testing of a line driver with configurable pre-emphasis on lossy transmission lines
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Testing of a line driver with configurable pre-emphasis on lossy transmission lines

John, Nicholas St ; Mandal, Soumyajit ; Villalpando, Edwin ; Maj, Piotr ; Deptuch, Grzegorz W.

IEEE transactions on nuclear science, 2024-01, Vol.71 (9), p.1-1 [Periódico revisado por pares]

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7
Temperature-Dependent Cascades in Irradiated InxGa1-xN (x < 0.34) Materials
Temperature-Dependent Cascades in Irradiated InxGa1-xN (x < 0.34) Materials
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Temperature-Dependent Cascades in Irradiated InxGa1-xN (x < 0.34) Materials

Li, Ye ; Jiang, Shangting ; He, Hongyu ; Wang, Xinlin

IEEE transactions on nuclear science, 2023-11, Vol.70 (11), p.2442-2449 [Periódico revisado por pares]

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8
A Global Analysis of Light and Charge Yields in Liquid Xenon
A Global Analysis of Light and Charge Yields in Liquid Xenon
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A Global Analysis of Light and Charge Yields in Liquid Xenon

Lenardo, Brian ; Kazkaz, Kareem ; Manalaysay, Aaron ; Mock, Jeremy ; Szydagis, Matthew ; Tripathi, Mani

IEEE transactions on nuclear science, 2015-12, Vol.62 (6), p.3387-3396 [Periódico revisado por pares]

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9
Single-Event Burnout of SiC Junction Barrier Schottky Diode High-Voltage Power Devices
Single-Event Burnout of SiC Junction Barrier Schottky Diode High-Voltage Power Devices
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Single-Event Burnout of SiC Junction Barrier Schottky Diode High-Voltage Power Devices

Witulski, A. F. ; Arslanbekov, R. ; Raman, A. ; Schrimpf, R. D. ; Sternberg, A. L. ; Galloway, K. F. ; Javanainen, A. ; Grider, D. ; Lichtenwalner, D. J. ; Hull, B.

IEEE transactions on nuclear science, 2018-01, Vol.65 (1), p.256-261 [Periódico revisado por pares]

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10
Real-Time Particle Identification in Liquid Xenon
Real-Time Particle Identification in Liquid Xenon
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Real-Time Particle Identification in Liquid Xenon

Nicolo, D. ; Baldini, A. M. ; Bemporad, C. ; Cei, F. ; Chiappini, M. ; Francesconi, M. ; Galli, L. ; Grassi, M. ; Iwamoto, T. ; Morsani, F. ; Papa, A. ; Sawada, R. ; Signorelli, G.

IEEE transactions on nuclear science, 2021-11, Vol.68 (11), p.2630-2636 [Periódico revisado por pares]

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