Resultados de 1 a 10 de 14 para Busca Geral
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| Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Livro
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Scanning Electron Microscopy and X-ray MicroanalysisJoseph Newbury, Dale E. Joy, David C. Goldstein Patrick Echlin; David C Joy; Eric Lifshin; Charles E Lyman; J.R Michael; Dale E Newbury; Linda Sawyer; Linda C SawyerSpringer US 2003Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Determinação das densidades eletrônicas de neoplasias mamárias utilizando o espalhamento Compton de raios XAntoniassi, MarceloBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Faculdade de Filosofia, Ciências e Letras de Ribeirão Preto 2008-09-24Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Livro
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Advances in X-Ray analysis, volume 4 proceedings of the Ninth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 10-12, 1960Conference on Application of X-Ray Analysis (9. 1960 Denver, Colorado) William M MuellerNew York Plenum 1960Localização: IF - Instituto de Física (MS AXRA v.4 ) e outros locais(Acessar) |
| 4 |
Material Type: Livro
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Advances in X-ray analysis, volume 13 proceedingsConference on Applications of X-Ray Analysis (18. 1969 Denver) Henke, Burton L.; Newkirk, John B.; Mallett, Gavin R.New York Plenum 1970Localização: IF - Instituto de Física (MS AXRA v.13 ) e outros locais(Acessar) |
| 5 |
Material Type: Livro
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Advances in X-Ray Analysis, v. 10 proceedings of the fifteenth Annual Conference on Applications of X-Ray analysis, held August 10-12, 1966Conference on Application of X-Ray Analysis (15. 1966 Denver, Colorado) Newkirk, John B.; Mallett, Gavin R.New York Plenum c1967Localização: IF - Instituto de Física (MS AXRA v.10 ) e outros locais(Acessar) |
| 6 |
Material Type: Livro
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Advances in X-Ray Analysis, v.11 proceedings of the sixteenth Annual Conference on applications of X-Ray Analysis, held August 9-11, 1967Conference on Application of X-Ray Analysis (16. 1967 Denver, Colorado) Newkirk, John B.; Mallett, Gavin R.; Pfeiffer, Heinz G.New York Plenum c1968Localização: IF - Instituto de Física (MS AXRA v.11 ) e outros locais(Acessar) |
| 7 |
Material Type: Livro
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Advances in X-Ray Analysis, volume 6 proceedings of the eleventh Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 8-10, 1962Conference on Application of X-Ray Analysis (11. 1962 Denver) Mueller, William M.; Fay, MarieNew York Plenum c1963Localização: IF - Instituto de Física (MS AXRA v.6 ) e outros locais(Acessar) |
| 8 |
Material Type: Livro
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Advances in X-ray analysis, volume 27 proceedingsConference on Applications of X-Ray Analysis 1983 Denver) Cohen, Jerome B.New York Plenum 1984Localização: IF - Instituto de Física (MS AXRA v.27 ) e outros locais(Acessar) |
| 9 |
Material Type: Livro
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Advances in X-ray analysis, volume 12 proceedingsConference on Applications of X-Ray analysis (17. 1968 Denver) Barret, Charles S.; Newkirk, John B.; Mallett, Gavin R.New York Plenum 1969Localização: IF - Instituto de Física (MS AXRA v.12 ) e outros locais(Acessar) |
| 10 |
Material Type: Artigo
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Comparison of beam quality parameters computed from mammographic x-ray spectra measured with different high-resolution semiconductor detectorsA. Tomal D. M Cunha; Martín Eduardo PolettiRadiation Physics and Chemistry Kidlington v. 95, p. 217-220, 2014Kidlington 2014Localização: FFCLRP - Fac. Fil. Ciên. Let. de R. Preto (pcd 2457682 Estantes Deslizantes )(Acessar) |
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