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Revealing the atomic structure of the buffer layer between SiC(0001) and epitaxial graphene
Revealing the atomic structure of the buffer layer between SiC(0001) and epitaxial graphene
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Revealing the atomic structure of the buffer layer between SiC(0001) and epitaxial graphene

Goler, Sarah ; Coletti, Camilla ; Piazza, Vincenzo ; Pingue, Pasqualantonio ; Colangelo, Francesco ; Pellegrini, Vittorio ; Emtsev, Konstantin V. ; Forti, Stiven ; Starke, Ulrich ; Beltram, Fabio ; Heun, Stefan

Carbon (New York), 2013-01, Vol.51, p.249-254 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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Engineering the electronic structure of epitaxial graphene by transfer doping and atomic intercalation
Engineering the electronic structure of epitaxial graphene by transfer doping and atomic intercalation
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Engineering the electronic structure of epitaxial graphene by transfer doping and atomic intercalation

Starke, U. ; Forti, S. ; Emtsev, K.V. ; Coletti, C.

MRS bulletin, 2012-12, Vol.37 (12), p.1177-1186 [Periódico revisado por pares]

New York, USA: Cambridge University Press

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Scanning Probe Spectroscopy of WS2/Graphene Van Der Waals Heterostructures
Scanning Probe Spectroscopy of WS2/Graphene Van Der Waals Heterostructures
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Scanning Probe Spectroscopy of WS2/Graphene Van Der Waals Heterostructures

Dinelli, Franco ; Fabbri, Filippo ; Forti, Stiven ; Coletti, Camilla ; Kolosov, Oleg ; Pingue, Pasqualantonio

Nanomaterials (Basel, Switzerland), 2020-12, Vol.10 (12), p.2494 [Periódico revisado por pares]

Basel: MDPI AG

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Deployment of a WLCG network monitoring infrastructure based on the perfSONAR-PS technology
Deployment of a WLCG network monitoring infrastructure based on the perfSONAR-PS technology
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Deployment of a WLCG network monitoring infrastructure based on the perfSONAR-PS technology

Campana, S ; Brown, A ; Bonacorsi, D ; Capone, V ; Girolamo, D De ; Casani, A F ; Flix, J ; Forti, A ; Gable, I ; Gutsche, O ; Hesnaux, A ; Liu, S ; Munoz, F Lopez ; Magini, N ; McKee, S ; Mohammed, K ; Rand, D ; Reale, M ; Roiser, S ; Zielinski, M ; Zurawski, J

Journal of physics. Conference series, 2014-01, Vol.513 (6), p.62008-7, Article 062008 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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On-Chip Fast Data Sparsification for a Monolithic 4096-Pixel Device
On-Chip Fast Data Sparsification for a Monolithic 4096-Pixel Device
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On-Chip Fast Data Sparsification for a Monolithic 4096-Pixel Device

Gabrielli, A. ; Batignani, G. ; Bettarini, S. ; Bosi, F. ; Calderini, G. ; Cenci, R. ; Dell'Orso, M. ; Forti, F. ; Giannetti, P. ; Giorgi, M.A. ; Lusiani, A. ; Marchiori, G. ; Morsani, F. ; Neri, N. ; Paoloni, E. ; Rizzo, G. ; Walsh, J. ; Andreoli, C. ; Gaioni, L. ; Pozzati, E. ; Ratti, L. ; Speziali, V. ; Manghisoni, M. ; Re, V. ; Traversi, G. ; Bomben, M. ; Bosisio, L. ; Giacomini, G. ; Lanceri, L. ; Rachevskaia, I. ; Vitale, L. ; Dalla Betta, G.F. ; Soncini, G. ; Fontana, G. ; Pancheri, L. ; Verzellesi, G. ; Gamba, D. ; Giraudo, G. ; Mereu, P. ; Di Sipio, R. ; Bruschi, M. ; Giacobbe, B. ; Giorgi, F. ; Semprini, N. ; Sbarra, C. ; Spighi, R. ; Valentinetti, S. ; Villa, M. ; Zoccoli, A.

IEEE transactions on nuclear science, 2009-06, Vol.56 (3), p.1159-1162 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
The KLOE computing environment
The KLOE computing environment
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The KLOE computing environment

Moulson, M.

IEEE transactions on nuclear science, 2004-06, Vol.51 (3), p.897-902 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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