skip to main content
Idioma:
Refinado por: tipo de recurso: Outros remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Combining SILC and BD Statistics for Low-Voltage Lifetime Projection in HK/MG Stacks
Combining SILC and BD Statistics for Low-Voltage Lifetime Projection in HK/MG Stacks
Material Type:
Outros 		Adicionar ao Meu Espaço

Combining SILC and BD Statistics for Low-Voltage Lifetime Projection in HK/MG Stacks

Vici, Andrea ; Degraeve, Robin ; Bastos, Joao Pedro ; Roussel, Philippe ; De Wolf, Ingrid

IEEE 2022

Texto completo disponível

Citações Citado por
2
Simulation Comparison of Hot-Carrier Degradation in Nanowire, Nanosheet and Forksheet FETs
Simulation Comparison of Hot-Carrier Degradation in Nanowire, Nanosheet and Forksheet FETs
Material Type:
Outros 		Adicionar ao Meu Espaço

Simulation Comparison of Hot-Carrier Degradation in Nanowire, Nanosheet and Forksheet FETs

Vandemaele, Michiel ; Groeseneken, Guido ; Kaczer, Ben ; Bury, Erik ; Chasin, Adrian ; Francop, Jacopo ; Mertens, Hans ; Makarov, Alexander ; Hellings, Geert ; Tyaginov, Stanislav

IEEE 2022

Texto completo disponível

Citações Citado por

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.