skip to main content
Idioma:
Resultados 1 2 3 4 5 next page
Mostrar Somente
Refinado por: Base de dados/Biblioteca: EZB Free E-Journals remover
Result Number Material Type Add to My Shelf Action Record Details and Options
1
Effects of solvent vapor annealing on the optical properties and surface adhesion of conjugated D:A thin films
Effects of solvent vapor annealing on the optical properties and surface adhesion of conjugated D:A thin films
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Effects of solvent vapor annealing on the optical properties and surface adhesion of conjugated D:A thin films

Casagrande, Tain Reges ; Jnior, Juscelino Valter Barbosas ; Desordi, Jaqueline Cristine ; da Cunha, Mariana Richelle Pereira ; Gavim, Anderson Emanuel Ximim ; Vidal, Luciano Nassif ; Rodrigues, Paula Cristina ; Coondoo, Indrani ; Coutinho, Douglas J ; Faria, Roberto Mendona ; Macedo, Andreia Gerniski

Physical chemistry chemical physics : PCCP, 2023-09, Vol.25 (37), p.2528-25288 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível

Citações Citado por
2
An Adaptation of the Split-Cylinder Resonator Method for Measuring the Microwave Properties of Thin Ferroelectric Films in a "Thin Film-Substrate" Structure
An Adaptation of the Split-Cylinder Resonator Method for Measuring the Microwave Properties of Thin Ferroelectric Films in a "Thin Film-Substrate" Structure
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

An Adaptation of the Split-Cylinder Resonator Method for Measuring the Microwave Properties of Thin Ferroelectric Films in a "Thin Film-Substrate" Structure

Gagarin, Alexander ; Tsyganova, Diana ; Altynnikov, Andrey ; Komlev, Andrey ; Platonov, Roman

Sensors (Basel, Switzerland), 2024-01, Vol.24 (3), p.755 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

Texto completo disponível

Citações Citado por
3
MAIRS: Innovation of Molecular Orientation Analysis in a Thin Film
MAIRS: Innovation of Molecular Orientation Analysis in a Thin Film
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

MAIRS: Innovation of Molecular Orientation Analysis in a Thin Film

Hasegawa, Takeshi ; Shioya, Nobutaka

Bulletin of the Chemical Society of Japan, 2020-09, Vol.93 (9), p.1127-1138 [Periódico revisado por pares]

Tokyo: The Chemical Society of Japan

Texto completo disponível

Citações Citado por
4
Phase Diagram and Superconducting Dome of Infinite-Layer Nd1−xSrxNiO2 Thin Films
Phase Diagram and Superconducting Dome of Infinite-Layer Nd1−xSrxNiO2 Thin Films
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Phase Diagram and Superconducting Dome of Infinite-Layer Nd1−xSrxNiO2 Thin Films

Zeng, Shengwei ; Tang, Chi Sin ; Yin, Xinmao ; Li, Changjian ; Li, Mengsha ; Huang, Zhen ; Hu, Junxiong ; Liu, Wei ; Omar, Ganesh Ji ; Jani, Hariom ; Lim, Zhi Shiuh ; Han, Kun ; Wan, Dongyang ; Yang, Ping ; Pennycook, Stephen John ; Wee, Andrew T S ; Ariando, Ariando

Physical review letters, 2020-10, Vol.125 (14), p.1 [Periódico revisado por pares]

College Park: American Physical Society

Texto completo disponível

Citações Citado por
5
Extended Skyrmion phase in epitaxial FeGe(111) thin films
Extended Skyrmion phase in epitaxial FeGe(111) thin films
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Extended Skyrmion phase in epitaxial FeGe(111) thin films

Huang, S X ; Chien, C L

Physical review letters, 2012-06, Vol.108 (26), p.267201-267201, Article 267201 [Periódico revisado por pares]

United States

Texto completo disponível

Citações Citado por
6
Mechanism of Néel Order Switching in Antiferromagnetic Thin Films Revealed by Magnetotransport and Direct Imaging
Mechanism of Néel Order Switching in Antiferromagnetic Thin Films Revealed by Magnetotransport and Direct Imaging
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Mechanism of Néel Order Switching in Antiferromagnetic Thin Films Revealed by Magnetotransport and Direct Imaging

Baldrati, L. ; Gomonay, O. ; Ross, A. ; Filianina, M. ; Lebrun, R. ; Ramos, R. ; Leveille, C. ; Fuhrmann, F. ; Forrest, T. R. ; Maccherozzi, F. ; Valencia, S. ; Kronast, F. ; Saitoh, E. ; Sinova, J. ; Kläui, M.

Physical review letters, 2019-10, Vol.123 (17), p.1-177201, Article 177201 [Periódico revisado por pares]

College Park: American Physical Society

Texto completo disponível

Citações Citado por
7
Surface-supported metal-organic framework thin films: fabrication methods, applications, and challenges
Surface-supported metal-organic framework thin films: fabrication methods, applications, and challenges
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Surface-supported metal-organic framework thin films: fabrication methods, applications, and challenges

Liu, Jinxuan ; Wöll, Christof

Chemical Society reviews, 2017-10, Vol.46 (19), p.573-577 [Periódico revisado por pares]

England

Texto completo disponível

Citações Citado por
8
Using angle-selective optical film to enhance the light extraction of a thin-film encapsulated 3D reflective pixel for OLED displays
Using angle-selective optical film to enhance the light extraction of a thin-film encapsulated 3D reflective pixel for OLED displays
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Using angle-selective optical film to enhance the light extraction of a thin-film encapsulated 3D reflective pixel for OLED displays

Liao, Po-Hsiang ; Lee, Wei-Kai ; Lee, Chang-Cheng ; Huang, Chun-Wei ; Wen, Sheng-Wen ; Chen, Yi-Ting ; Chen, Chung-Chia ; Lin, Wan-Yu ; Kwak, B Leo ; Visser, Robert Jan ; Wu, Chung-Chih

Optics express, 2022-12, Vol.30 (26), p.46435-46449 [Periódico revisado por pares]

United States

Texto completo disponível

Citações Citado por
9
Sierpiński Structure and Electronic Topology in Bi Thin Films on InSb(111)B Surfaces
Sierpiński Structure and Electronic Topology in Bi Thin Films on InSb(111)B Surfaces
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Sierpiński Structure and Electronic Topology in Bi Thin Films on InSb(111)B Surfaces

Liu, Chen ; Zhou, Yinong ; Wang, Guanyong ; Yin, Yin ; Li, Can ; Huang, Haili ; Guan, Dandan ; Li, Yaoyi ; Wang, Shiyong ; Zheng, Hao ; Liu, Canhua ; Han, Yong ; Evans, James W ; Liu, Feng ; Jia, Jinfeng

Physical review letters, 2021-04, Vol.126 (17), p.176102-176102, Article 176102 [Periódico revisado por pares]

United States: American Physical Society

Texto completo disponível

Citações Citado por
10
Spectral Control of an X-Ray L-Edge Transition via a Thin-Film Cavity
Spectral Control of an X-Ray L-Edge Transition via a Thin-Film Cavity
Material Type:
Artigo 		Adicionar ao Meu Espaço

Spectral Control of an X-Ray L-Edge Transition via a Thin-Film Cavity

Haber, Johann ; Gollwitzer, Jakob ; Francoual, Sonia ; Tolkiehn, Martin ; Strempfer, Jörg ; Röhlsberger, Ralf

Physical review letters, 2019-03, Vol.122 (12), p.123608-123608, Article 123608 [Periódico revisado por pares]

United States: American Physical Society

Texto completo disponível

Citações Citado por
Resultados 1 2 3 4 5 next page

Personalize Seus Resultados

  1. Editar

Refine Search Results

Expandir Meus Resultados

  1.   

Mostrar Somente

  1. Revistas revisadas por pares (312.456)

Refinar Meus Resultados

Tipo de Recurso 

  1. Artigos  (343.038)
  2. magazinearticle  (11.572)
  3. Anais de Congresso  (1.996)
  4. Resenhas  (597)
  5. Reports  (369)
  6. Artigos de Jornal  (31)
  7. Newsletter Articles  (30)
  8. Book Chapters  (12)
  9. Recursos Textuais  (8)
  10. Web Resources  (7)
  11. Conjunto de Dados  (2)
  12. Livros  (2)
  13. Mais opções open sub menu

Data de Publicação 

De até
Refinar
  1. Antes de1958  (2.878)
  2. 1958Até1973  (2.342)
  3. 1974Até1989  (7.711)
  4. 1990Até2006  (43.448)
  5. Após 2006  (301.323)
  6. Mais opções open sub menu

Idioma 

  1. Inglês  (348.059)
  2. Japonês  (54.085)
  3. Coreano  (1.751)
  4. Português  (1.373)
  5. Espanhol  (700)
  6. Chinês  (472)
  7. Francês  (442)
  8. Alemão  (374)
  9. Norueguês  (245)
  10. Russo  (221)
  11. Polonês  (112)
  12. Tcheco  (50)
  13. Eslovaco  (49)
  14. Croatian  (47)
  15. Italiano  (46)
  16. Turco  (35)
  17. Árabe  (31)
  18. Ucraniano  (27)
  19. Esloveno  (24)
  20. Catalão  (19)
  21. Mais opções open sub menu

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.