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1
Electrochromics for smart windows: Oxide-based thin films and devices
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Electrochromics for smart windows: Oxide-based thin films and devices

Granqvist, Claes G.

Thin solid films, 2014-08, Vol.564, p.1-38 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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2
Sol–gel synthesis of intrinsic and aluminum-doped zinc oxide thin films as transparent conducting oxides for thin film solar cells
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Sol–gel synthesis of intrinsic and aluminum-doped zinc oxide thin films as transparent conducting oxides for thin film solar cells

Salam, Shahzad ; Islam, Mohammad ; Akram, Aftab

Thin solid films, 2013-02, Vol.529, p.242-247 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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3
P-type CuxS thin films: Integration in a thin film transistor structure
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Artigo
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P-type CuxS thin films: Integration in a thin film transistor structure

de Carvalho, C. Nunes ; Parreira, P. ; Lavareda, G. ; Brogueira, P. ; Amaral, A.

Thin solid films, 2013-09, Vol.543, p.3-6 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier B.V

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4
An investigation of electromagnetic interference shielding effectiveness with multilayer thin films material
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Artigo
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An investigation of electromagnetic interference shielding effectiveness with multilayer thin films material

Li, Yen-Ting ; Sun, Yin-Tung Albert

Thin solid films, 2022-07, Vol.753, p.139259, Article 139259 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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5
Stabilization of the oxygen concentration in La0.3Sr0.7CoO3−δ thin films by 3 nm thin LaAlO3 capping layer
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Artigo
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Stabilization of the oxygen concentration in La0.3Sr0.7CoO3−δ thin films by 3 nm thin LaAlO3 capping layer

Kiaba, M. ; Caha, O. ; Abadizaman, F. ; Dubroka, A.

Thin solid films, 2022-10, Vol.759, p.139438, Article 139438 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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6
Annealing effects of In2O3 thin films on electrical properties and application in thin film transistors
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Artigo
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Annealing effects of In2O3 thin films on electrical properties and application in thin film transistors

Yuan, Zijian ; Zhu, Xiaming ; Wang, Xiong ; Cai, Xikun ; Zhang, Bingpo ; Qiu, Dongjiang ; Wu, Huizhen

Thin solid films, 2011-03, Vol.519 (10), p.3254-3258 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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7
Wrinkling of a thin film-substrate with a shear-lag model at the interface
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Artigo
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Wrinkling of a thin film-substrate with a shear-lag model at the interface

Noroozi, Masoud

Thin solid films, 2021-08, Vol.732, p.138765, Article 138765 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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8
A thin film force sensor on AISI 5140 steel surface with multilayer SI3N4/AL2O3 film as insulation structure
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Artigo
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A thin film force sensor on AISI 5140 steel surface with multilayer SI3N4/AL2O3 film as insulation structure

Li, Xuerui ; Yu, Gongqi ; Zhang, Haiping ; Cao, Zhen ; Li, Wenbo ; Li, Jiongli ; Wang, Xudong

Thin solid films, 2023-06, Vol.775, p.139797, Article 139797 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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9
The Mn+1AXn phases: Materials science and thin-film processing
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The Mn+1AXn phases: Materials science and thin-film processing

EKLUND, Per ; BECKERS, Manfred ; JANSSON, Ulf ; HÖGBERG, Hans ; HULTMAN, Lars

Thin solid films, 2010-02, Vol.518 (8), p.1851-1878 [Periódico revisado por pares]

Amsterdam: Elsevier

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10
Tunable electrical properties of NiO thin films and p-type thin-film transistors
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Tunable electrical properties of NiO thin films and p-type thin-film transistors

Chen, Yongyue ; Sun, Yajie ; Dai, Xusheng ; Zhang, Bingpo ; Ye, Zhenyu ; Wang, Miao ; Wu, Huizhen

Thin solid films, 2015-10, Vol.592, p.195-199 [Periódico revisado por pares]

Elsevier B.V

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