Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Vídeo
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Memories and microprocessors Introduction to design and technologyK. J O'Conner; Patrick Bosshart; Bruce L Bateman; Nicky Lu; Institute of Electrical and Electronics Engineers; IEEE International Electron Devices Meeting, 1988Piscataway, N.C. Institute of Electrical and Electronics Engineers c1988Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval (VC 621.381 M519 v.4 )(Acessar) |
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Material Type: Artigo
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Análise e avaliação de hotéisBelli, Ari; Heineck, Luiz Fernando M.; Casarotto Filho, NelsonRevista Turismo em Análise; Vol. 7 No. 2 (1996); 85-92Universidade de São Paulo. Escola de Comunicações e Artes 1996-11-06Acesso online |
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Material Type: Livro
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Digital Power Electronics and ApplicationsFang Lin Luo, Hong Ye, Muhammad H. RashidJordan Hill: Elsevier Science 2010Texto completo disponível |
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Material Type: Livro
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Smart Things: Ubiquitous Computing User Experience DesignKuniavsky, MikeSan Diego: Elsevier Science 2010Texto completo disponível |
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Material Type: Livro
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EMaintenance: Essential Electronic Tools for EfficiencyGalar, Diego ; Kumar, UdaySan Diego: Elsevier Science & Technology 2017Texto completo disponível |
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Material Type: Livro
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Advanced Computing in Electron MicroscopyKirkland, Earl JNew York, NY: Springer 1998Texto completo disponível |
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Material Type: Livro
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Hardware/Software Co-DesignDeMicheli, Giovanni ; Sami, M. GDordrecht: Springer Netherlands 1996Texto completo disponível |
8 |
Material Type: Livro
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Neural Models and Algorithms for Digital TestingChadradhar, S. T ; Agrawal, Vishwani ; Bushnell, MNew York, NY: Springer 1991Texto completo disponível |
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Material Type: Livro
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Excel for Chemists: A Comprehensive GuideBillo, E. JosephHoboken: Wiley 2004Texto completo disponível |
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Material Type: Artigo
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Levenshtein Distance, Sequence Comparison and Biological Database SearchBerger, Bonnie ; Waterman, Michael S. ; Yu, Yun WilliamIEEE transactions on information theory, 2021-06, Vol.67 (6), p.3287-3294 [Periódico revisado por pares]United States: IEEETexto completo disponível |