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Introducing chemistry in atomistic kinetic Monte Carlo simulations of Fe alloys under irradiation
Introducing chemistry in atomistic kinetic Monte Carlo simulations of Fe alloys under irradiation
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Introducing chemistry in atomistic kinetic Monte Carlo simulations of Fe alloys under irradiation

Becquart, C. S. ; Domain, C.

Physica status solidi. B. Basic research, 2010-01, Vol.247 (1), p.9-22 [Periódico revisado por pares]

Berlin: WILEY-VCH Verlag

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Annealing of paramagnetic centres in electron- and ion-irradiated yttria-stabilized zirconia: effect of yttria content
Annealing of paramagnetic centres in electron- and ion-irradiated yttria-stabilized zirconia: effect of yttria content
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Annealing of paramagnetic centres in electron- and ion-irradiated yttria-stabilized zirconia: effect of yttria content

Costantini, Jean-Marc ; Beuneu, François ; Weber, William J.

Philosophical magazine (Abingdon, England), 2014-07, Vol.94 (20), p.2281-2296 [Periódico revisado por pares]

Abingdon: Taylor & Francis

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Colour centre production in yttria-stabilized zirconia by X-ray and electron irradiations: effect of yttria content
Colour centre production in yttria-stabilized zirconia by X-ray and electron irradiations: effect of yttria content
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Colour centre production in yttria-stabilized zirconia by X-ray and electron irradiations: effect of yttria content

Costantini, Jean-Marc ; Fasoli, Mauro ; Beuneu, François ; Boizot, Bruno

Philosophical magazine (Abingdon, England), 2014-12, Vol.94 (35), p.4053-4065 [Periódico revisado por pares]

Abingdon: Taylor & Francis

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Influence of the crystallite size on the phase transformation of yttria irradiated with swift heavy ions
Influence of the crystallite size on the phase transformation of yttria irradiated with swift heavy ions
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Influence of the crystallite size on the phase transformation of yttria irradiated with swift heavy ions

HEMON, S ; BERTHELOT, A ; DUFOUR, Ch ; GOURBILLEAU, F ; DOORYHEE, E ; BEGIN-COLIN, S ; PAUMIER, E

The European physical journal. B, Condensed matter physics, 2001-02, Vol.19 (4), p.517-523 [Periódico revisado por pares]

Les Ulis: Springer

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Energy deposition in selected-mammalian cell for several-MeV single-proton beam
Energy deposition in selected-mammalian cell for several-MeV single-proton beam
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Energy deposition in selected-mammalian cell for several-MeV single-proton beam

Ding, K. ; Yu, Z.

European physical journal. Applied physics, 2007-05, Vol.38 (2), p.191-195 [Periódico revisado por pares]

Les Ulis: EDP Sciences

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cw and pulsed EPR study of lithium irradiated n-type 21R SiC
cw and pulsed EPR study of lithium irradiated n-type 21R SiC
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cw and pulsed EPR study of lithium irradiated n-type 21R SiC

Mitrikas, G. ; Kokkoris, M. ; Kossionides, S. ; Kordas, G.

European physical journal. Applied physics, 2003-03, Vol.21 (3), p.163-170 [Periódico revisado por pares]

Les Ulis: EDP Sciences

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Structural changes during Ar-ion irradiation of laser-deposited Fe/Ag multilayers
Structural changes during Ar-ion irradiation of laser-deposited Fe/Ag multilayers
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Structural changes during Ar-ion irradiation of laser-deposited Fe/Ag multilayers

KREBS, H. U ; LUO, Y ; STÖRMER, M ; CRESPO, A ; SCHAAF, P ; BOLSE, W

Applied physics. A, Materials science & processing, 1995-12, Vol.61 (6), p.591-594 [Periódico revisado por pares]

Berlin: Springer

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Inverse photopyroelectric detection of phase transitions
Inverse photopyroelectric detection of phase transitions
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Inverse photopyroelectric detection of phase transitions

DADARLAT, D ; FRANDAS, A

Applied Physics A Solids and Surfaces, 1993-09, Vol.57 (3), p.235-238 [Periódico revisado por pares]

Heidelberg: Springer

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A study of X-ray induced disorder in oligonucleotide single crystals
A study of X-ray induced disorder in oligonucleotide single crystals
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A study of X-ray induced disorder in oligonucleotide single crystals

Savitha, G. ; Somashekar, R. ; Viswamitra, M. A.

European physical journal. Applied physics, 2000-11, Vol.12 (2), p.99-103 [Periódico revisado por pares]

Les Ulis: EDP Sciences

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Analysis of ion-implanted silicon using high-resolution X-ray diffraction
Analysis of ion-implanted silicon using high-resolution X-ray diffraction
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Analysis of ion-implanted silicon using high-resolution X-ray diffraction

PESEK, A

Applied Physics A Solids and Surfaces, 1994-03, Vol.58 (3), p.141-147 [Periódico revisado por pares]

Heidelberg: Springer

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