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1	Material Type: Artigo		A Progression Model of Software Engineering Goals, Challenges, and Practices in Start-Ups Klotins, Eriks ; Unterkalmsteiner, Michael ; Chatzipetrou, Panagiota ; Gorschek, Tony ; Prikladnicki, Rafael ; Tripathi, Nirnaya ; Pompermaier, Leandro Bento IEEE transactions on software engineering, 2021-03, Vol.47 (3), p.498-521 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
2	Material Type: Livro		Enhanced Living Environments: Algorithms, Architectures, Platforms, and Systems Ganchev, Ivan ; Garcia, Nuno M ; Dobre, Ciprian ; Mavromoustakis, Constandinos X ; Goleva, Rossitza Garcia, Nuno M ; Ganchev, Ivan ; Dobre, Ciprian ; Mavromoustakis, Constandinos X ; Dobre, Ciprian ; Ganchev, Ivan ; Garcia, Nuno M ; Goleva, Rossitza Netherlands: Springer Nature 2019 Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
3	Material Type: Artigo		IntRepair: Informed Repairing of Integer Overflows Muntean, Paul ; Monperrus, Martin ; Sun, Hao ; Grossklags, Jens ; Eckert, Claudia IEEE transactions on software engineering, 2021-10, Vol.47 (10), p.2225-2241 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
4	Material Type: Artigo		On Company Contributions to Community Open Source Software Projects Butler, Simon ; Gamalielsson, Jonas ; Lundell, Bjorn ; Brax, Christoffer ; Sjoberg, Johan ; Mattsson, Anders ; Gustavsson, Tomas ; Feist, Jonas ; Lonroth, Erik IEEE transactions on software engineering, 2021-07, Vol.47 (7), p.1381-1401 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
5	Material Type: Artigo		FedCSD: A Federated Learning Based Approach for Code-Smell Detection Alawadi, Sadi ; Alkharabsheh, Khalid ; Alkhabbas, Fahed ; Kebande, Victor R. ; Awaysheh, Feras M. ; Palomba, Fabio ; Awad, Mohammed IEEE access, 2024, Vol.12, p.44888-44904 [Periódico revisado por pares] Piscataway: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
6	Material Type: Livro		Nonlinear Mode Decomposition: Theory and Applications Iatsenko, Dmytro Cham: Springer International Publishing AG 2015 Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
7	Material Type: Artigo		A Survey and Evaluation of Simulators Suitable for Teaching Courses in Computer Architecture and Organization Nikolic, B. ; Radivojevic, Z. ; Djordjevic, J. ; Milutinovic, V. IEEE transactions on education, 2009-11, Vol.52 (4), p.449-458 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
8	Material Type: Artigo		Requirements Engineering for Safety-Critical Systems: An Interview Study with Industry Practitioners Martins, Luiz Eduardo G. ; Gorschek, Tony IEEE transactions on software engineering, 2020-04, Vol.46 (4), p.346-361 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
9	Material Type: Artigo		makeSense: Simplifying the Integration of Wireless Sensor Networks into Business Processes Mottola, L. ; Picco, G. P. ; Oppermann, F. J. ; Eriksson, J. ; Finne, N. ; Fuchs, H. ; Gaglione, A. ; Karnouskos, S. ; Montero, P. Moreno ; Oertel, N. ; Romer, K. ; Spies, P. ; Tranquillini, S. ; Voigt, T. IEEE transactions on software engineering, 2019-06, Vol.45 (6), p.576-596 [Periódico revisado por pares] IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por
10	Material Type: Artigo		EduCloud: PaaS versus IaaS Cloud Usage for an Advanced Computer Science Course Vaquero, L. M. IEEE transactions on education, 2011-11, Vol.54 (4), p.590-598 [Periódico revisado por pares] New York: IEEE Texto completo disponível Exibir Online Detalhes Resenhas & Tags Mais Opções Nº de Citações Citações Citado por

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