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1
Automated optical proximity correction: a rules-based approach
Automated optical proximity correction: a rules-based approach
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Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Automated optical proximity correction: a rules-based approach

Otto, Oberdan W ; Garofalo, Joseph G ; Low, K. K ; Yuan, Chi-Min ; Henderson, Richard C ; Pierrat, Christophe ; Kostelak, Robert L ; Vaidya, Sheila ; Vasudev, P. K

SPIE 1994

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2
Applications of enhanced optical proximity correction models
Applications of enhanced optical proximity correction models
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Applications of enhanced optical proximity correction models

Zhao, Jack Q ; Garofalo, Joseph G ; Blatchford, James W ; Ehrlacher, Edward ; Nease, Ellis

SPIE proceedings series, 1998, Vol.3334, p.234-244

Bellingham WA: SPIE

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3
RF monitoring of commercial vascular stents with dipole scattering resonances
RF monitoring of commercial vascular stents with dipole scattering resonances
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

RF monitoring of commercial vascular stents with dipole scattering resonances

Arauz Garofalo, Gianluca ; López Domínguez, Víctor ; Hernández Ferras, Joan Manel ; Rodríguez Leor, Oriol ; Bayés Genis, Antoni ; Rius Casals, Juan Manuel ; O'Callaghan Castellà, Juan Manuel ; García Santiago, Antoni ; Tejada Palacios, Javier

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) 2014

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4
Walking control of fully actuated robots based on the Bipedal SLIP model
Walking control of fully actuated robots based on the Bipedal SLIP model
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Walking control of fully actuated robots based on the Bipedal SLIP model

Garofalo, G. ; Ott, C. ; Albu-Schaffer, A.

2012 IEEE International Conference on Robotics and Automation, 2012, p.1456-1463

IEEE

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5
Reduction of ASIC gate-level line-end shortening by mask compensation
Reduction of ASIC gate-level line-end shortening by mask compensation
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Reduction of ASIC gate-level line-end shortening by mask compensation

Garofalo, Joseph G ; DeMarco, John ; Bailey, J ; Xiao, Jiabei ; Vaidya, Sheila

SPIE 1995

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6
Linesize effects on UV reflectance spectra
Linesize effects on UV reflectance spectra
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Linesize effects on UV reflectance spectra

Ziger, David H ; Adams, Thomas E ; Garofalo, Joseph G

SPIE 1996

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7
Control and uniformity of 280-nm features in i-line lithography using optical proximity corrections and off-axis illumination
Control and uniformity of 280-nm features in i-line lithography using optical proximity corrections and off-axis illumination
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Control and uniformity of 280-nm features in i-line lithography using optical proximity corrections and off-axis illumination

Watson, Pat G ; Garofalo, Joseph G ; Hansen, M ; Grodnensky, Ilya M ; Zych, Ludwik J ; Takahashi, R ; Yarbrough, Willie J ; Ehrlacher, Edward ; Reim, A ; Vella, R. M ; Dunbar, A ; Colina, Albert ; Herrero, B ; Castro, D

SPIE 1997

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8
Simplified rule generation for automated rules-based optical enhancement
Simplified rule generation for automated rules-based optical enhancement
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Simplified rule generation for automated rules-based optical enhancement

Otto, Oberdan W ; Garofalo, Joseph G ; Henderson, Richard C

SPIE 1995

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9
Focused-ion-beam repair of phase-shift photomasks
Focused-ion-beam repair of phase-shift photomasks
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Focused-ion-beam repair of phase-shift photomasks

Harriott, Lloyd R ; Garofalo, Joseph G ; Kostelak, Robert L

SPIE 1992

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10
Automated layout of mask assist-features for realizing 0.5 k1 ASIC lithography
Automated layout of mask assist-features for realizing 0.5 k1 ASIC lithography
Material Type:
Ata de Congresso 		Adicionar ao Meu Espaço

Automated layout of mask assist-features for realizing 0.5 k1 ASIC lithography

Garofalo, Joseph G ; Otto, Oberdan W ; Cirelli, Raymond A ; Kostelak, Robert L ; Vaidya, Sheila

SPIE 1995

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