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1
Magnetic-field distributions in zinc-nickel ferrite
Magnetic-field distributions in zinc-nickel ferrite
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Magnetic-field distributions in zinc-nickel ferrite

DOOLING, T. A ; COOK, D. C

Journal of applied physics, 1991-04, Vol.69 (8), p.5352-5354 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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2
Phase changes in plasma-sprayed zinc-nickel ferrite
Phase changes in plasma-sprayed zinc-nickel ferrite
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Phase changes in plasma-sprayed zinc-nickel ferrite

DOOLING, T. A ; COOK, D. C

Journal of applied physics, 1991-04, Vol.69 (8), p.5355-5357 [Periódico revisado por pares]

Woodbury, NY: American Institute of Physics

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3
Mössbauer effect determination of relative recoilless fractions for iron oxides
Mössbauer effect determination of relative recoilless fractions for iron oxides
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Mössbauer effect determination of relative recoilless fractions for iron oxides

Oh, Sei J. ; Cook, D. C.

Journal of applied physics, 1999-01, Vol.85 (1), p.329-332 [Periódico revisado por pares]

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4
Thermal annealing of DC sputtered Nb3Sn and V3Si thin films for superconducting radio-frequency cavities
Thermal annealing of DC sputtered Nb3Sn and V3Si thin films for superconducting radio-frequency cavities
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Thermal annealing of DC sputtered Nb3Sn and V3Si thin films for superconducting radio-frequency cavities

Howard, Katrina ; Liepe, Matthias U. ; Sun, Zeming

Journal of applied physics, 2023-12, Vol.134 (22) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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5
High energy electron fluxes in dc-augmented capacitively coupled plasmas. II. Effects on twisting in high aspect ratio etching of dielectrics
High energy electron fluxes in dc-augmented capacitively coupled plasmas. II. Effects on twisting in high aspect ratio etching of dielectrics
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High energy electron fluxes in dc-augmented capacitively coupled plasmas. II. Effects on twisting in high aspect ratio etching of dielectrics

Wang, Mingmei ; Kushner, Mark J

Journal of applied physics, 2010-01, Vol.107 (2), p.023309-023309-11 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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6
Controllable far-infrared electromagnetic radiation from plasmas applied by dc or ac bias electric fields
Controllable far-infrared electromagnetic radiation from plasmas applied by dc or ac bias electric fields
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Controllable far-infrared electromagnetic radiation from plasmas applied by dc or ac bias electric fields

Wang, Wei-Min ; Sheng, Zheng-Ming ; Dong, X.-G ; Du, H.-W ; Li, Y.-T ; Zhang, J

Journal of applied physics, 2010-01, Vol.107 (2), p.023113-023113-7 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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7
Effect of dc bias on dielectric properties of Cd2Nb2O7 ceramics
Effect of dc bias on dielectric properties of Cd2Nb2O7 ceramics
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Effect of dc bias on dielectric properties of Cd2Nb2O7 ceramics

Ang, Chen ; Bhalla, A. S. ; Guo, Ruyan ; Cross, L. E.

Journal of applied physics, 2001-09, Vol.90 (5), p.2465-2468 [Periódico revisado por pares]

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8
Organic thin film transistors using a liquid crystalline palladium phthalocyanine as active layer
Organic thin film transistors using a liquid crystalline palladium phthalocyanine as active layer
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Organic thin film transistors using a liquid crystalline palladium phthalocyanine as active layer

Jiménez Tejada, Juan A. ; Lopez-Varo, Pilar ; Chaure, Nandu B. ; Chambrier, Isabelle ; Cammidge, Andrew N. ; Cook, Michael J. ; Jafari-Fini, Ali ; Ray, Asim K.

Journal of applied physics, 2018-03, Vol.123 (11) [Periódico revisado por pares]

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9
Stochastic behavior of nanoscale dielectric wall buckling
Stochastic behavior of nanoscale dielectric wall buckling
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Stochastic behavior of nanoscale dielectric wall buckling

Friedman, Lawrence H. ; Levin, Igor ; Cook, Robert F.

Journal of applied physics, 2016-03, Vol.119 (11) [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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10
Two-dimensional strain-mapping by electron backscatter diffraction and confocal Raman spectroscopy
Two-dimensional strain-mapping by electron backscatter diffraction and confocal Raman spectroscopy
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Two-dimensional strain-mapping by electron backscatter diffraction and confocal Raman spectroscopy

Gayle, Andrew J. ; Friedman, Lawrence H. ; Beams, Ryan ; Bush, Brian G. ; Gerbig, Yvonne B. ; Michaels, Chris A. ; Vaudin, Mark D. ; Cook, Robert F.

Journal of applied physics, 2017-11, Vol.122 (20) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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