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Refinado por: tipo de recurso: Dissertações remover assunto: Thin Films remover
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Nouvelle génération de capacités intégrées : influence des matériaux sur les performances diélectriques des capacités en couches minces
Nouvelle génération de capacités intégrées : influence des matériaux sur les performances diélectriques des capacités en couches minces
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Nouvelle génération de capacités intégrées : influence des matériaux sur les performances diélectriques des capacités en couches minces

Levasseur, Delphin

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The statistics of the dielectric breakdown of thin films
The statistics of the dielectric breakdown of thin films
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The statistics of the dielectric breakdown of thin films

Rowland, Simon Mark

King's College London (University of London)

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3
Collective modes and dielectric and superconducting properties of electronic systems in confined geometries
Collective modes and dielectric and superconducting properties of electronic systems in confined geometries
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Collective modes and dielectric and superconducting properties of electronic systems in confined geometries

Ulloa, S.E.

United States: State Univ. of New York,Buffalo, NY 1984

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4
Dielectric optical notch filter at 1.55 micrometers
Dielectric optical notch filter at 1.55 micrometers
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Dielectric optical notch filter at 1.55 micrometers

Geng, Cunfang

Texas Tech University 1999

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5
Soft-Lithographical Fabrication of Three-dimensional Photonic Crystals in the Optical Regime
Soft-Lithographical Fabrication of Three-dimensional Photonic Crystals in the Optical Regime
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Soft-Lithographical Fabrication of Three-dimensional Photonic Crystals in the Optical Regime

Lee, Jae-Hwang

Ames Laboratory 2006

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6
Soft-Lithographical Fabrication of Three-dimensional Photonic Crystals in the Optical Regime
Soft-Lithographical Fabrication of Three-dimensional Photonic Crystals in the Optical Regime
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Tese 		Adicionar ao Meu Espaço

Soft-Lithographical Fabrication of Three-dimensional Photonic Crystals in the Optical Regime

Lee, Jae-Hwang

United States 2006

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7
Measurement of the thickness and refractive index of evaporated dielectric films
Measurement of the thickness and refractive index of evaporated dielectric films
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Measurement of the thickness and refractive index of evaporated dielectric films

Vonno, Wilhelmus van

Delft: Waltman 1968

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Image potential states at metal-dielectric interfaces
Image potential states at metal-dielectric interfaces
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Image potential states at metal-dielectric interfaces

Merry, W. R. Jr

Lawrence Berkeley Laboratory 1992

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Image potential states at metal-dielectric interfaces
Image potential states at metal-dielectric interfaces
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Image potential states at metal-dielectric interfaces

Merry, Jr., Walter Richardson

United States 1992

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