The BaBar detector: Upgrades, operation and performance

Couderc, F. ; Prudent, X. ; Groysman, Y. ; Kral, J.F. ; LeClerc, C. ; Smith, D. ; Antonioli, E. ; Khan, A. ; Randle-Conde, A. ; Druzhinin, V.P. ; Golubev, V.B. ; Bondioli, M. ; Wang, K. ; Zhang, L. ; Hill, E.J. ; Rahatlou, S. ; Dahmes, B. ; Fang, F. ; Oyang, J. ; Piatenko, T. ; Barillari, T. ; Nauenberg, U. ; Rankin, P. ; Ulmer, K.A. ; Altenburg, D. ; Hauke, A. ; Maly, E. ; Mathieu, A. ; Bernet, R. ; Andreotti, M. ; Buzzo, A. ; Robutti, E. ; Bailey, S. ; Lee, C.L. ; Wu, J. ; Uwer, U. ; Behera, P.K. ; Eyges, V. ; Beigbeder, C. ; Le Diberder, F. ; Serrano, J. ; Wang, L.L. ; Wormser, G. ; Davis, C.L. ; Allison, J. ; Barlow, N.R. ; Edgar, C.L. ; Jackson, F. ; Kelly, M.P. ; Williams, J.C. ; Hulsbergen, W.D. ; Saremi, S. ; Klemetti, M. ; Mclachlin, S.E. ; Hufnagel, D. ; Regensburger, J.J. ; Ter-Antonyan, R. ; Rahmat, R. ; Sinev, N.B. ; Dal Corso, F. ; Galeazzi, F. ; Pennazzi, S. ; Cervelli, A. ; Marchiori, G. ; Sandrelli, F. ; Fernholz, R.E. ; Miftakov, V. ; Cavoto, G. ; D'Orazio, A. ; Condurache, C. ; Roethel, W. ; Graziani, G. ; Serfass, B. ; Aston, D. ; Bertsche, K. ; Boeheim, C.T. ; Fan, S. ; Fox, J. ; Halyo, V. ; Hryn'ova, T. ; Kim, P. ; Kharakh, D. ; Krebs, J. ; Novokhatski, A. ; Rivetta, C. ; Smith, D. ; Stanek, M. ; Wagner, A.P. ; Weber, T. ; Majewski, S.A. ; Petersen, B.A. ; Zain, S.B. ; Eckmann, R. ; Kitayama, I. ; Lou, X.C. ; Frank, E.D. ; Guo, Q.H. ; Banerjee, Sw ; Cheng, B. ; Mihalyi, A.

United States: Elsevier B.V

Texto completo disponível

The BABAR detector

Boutigny, D. ; Chen, J.C. ; Stugu, B. ; Abbott, B. ; Gill, M.S. ; Kadel, R.W. ; Karcher, A. ; Kral, J.F. ; Lynch, G. ; Luft, P. ; Momayezi, M. ; Oshatz, D. ; Roe, N.A. ; Weber, T.F. ; Hawkes, C.M. ; Krug, J. ; Steinke, M. ; Chevalier, N. ; McFall, J.D. ; Abe, K. ; Mikhailov, S.F. ; Telnov, V.I. ; Prell, S.A. ; Kuznetsova, N. ; Lu, A. ; Johnson, R.P. ; Hanson, J.E. ; Hitlin, D.G. ; Oyang, J. ; Samuel, A. ; Geld, T.L. ; Jayatilleke, S. ; Erdos, E. ; van Hoek, W.C. ; Olivas, A. ; Park, H. ; Harton, J.L. ; Dahlinger, G. ; T'Jampens, S. ; Verderi, M. ; Bernet, R. ; Anulli, F. ; Baldini-Ferroli, R. ; Farinon, S. ; Truong, K. ; Wormser, G. ; Brooks, A. ; van Bibber, K. ; Yamamoto, B. ; Dauncey, P.D. ; Martin, R. ; Back, J.J. ; Dixon, P. ; Potter, R.J.L. ; Olsen, J. ; Blaylock, G. ; Britton, D.I. ; Milek, M. ; Arguin, J.F. ; Martin, J.P. ; Seitz, R. ; Taras, P. ; Sutton, C.S. ; Sinev, N.B. ; David, P. ; De la Vaissière, C. ; Del Buono, L. ; Leruste, Ph ; Lory, J. ; Stark, J. ; Manfredi, P.F. ; Bula, C. ; Lidbury, J. ; Metcalfe, S. ; Markey, G. ; Gaidot, A. ; Gosset, L. ; Serfass, B. ; Toussaint, J.C. ; Purohit, M.V. ; Yumiceva, F.X. ; Boeheim, C.T. ; Burgess, W. ; Coward, D.H. ; Ecklund, S. ; Fieguth, T.H. ; Huffer, M.E. ; King, M.E. ; Mattison, T. ; O'Grady, C.P. ; Pertsova, M. ; Soderstrom, E. ; Sullivan, M.K. ; Weber, T. ; Meyer, T.I. ; Gamba, D. ; Trapani, P.P. ; Prest, M. ; Pitman, D. ; Yu, Z.

Texto completo disponível

Track finding efficiency in BABAR

Allmendinger, T. ; Bhuyan, B. ; Brown, D.N. ; Choi, H. ; Christ, S. ; Covarelli, R. ; Davier, M. ; Denig, A.G. ; Fritsch, M. ; Hafner, A. ; Kowalewski, R. ; Long, O. ; Lutz, A.M. ; Martinelli, M. ; Muller, D.R. ; Nugent, I.M. ; Lopes Pegna, D. ; Purohit, M.V. ; Prencipe, E. ; Roney, J.M. ; Simi, G. ; Solodov, E.P. ; Telnov, A.V. ; Varnes, E. ; Waldi, R. ; Wang, W.F. ; White, R.M.

Elsevier B.V

Texto completo disponível

Luminosity measurement with the MD-1 detector at VEPP-4

Blinov, A.E. ; Bondar, A.E. ; Bukin, A.D. ; Klimenko, S.G. ; Kolachev, G.M. ; Onuchin, A.P. ; Shamov, A.G. ; Telnov, V.I. ; Tikhonov, Yu.A. ; Zhilich, V.N.

Elsevier B.V

Texto completo disponível

Proportional chambers with delay line readout in the MD-1 detector

Aulchenko, V.M. ; Bondar, A.E. ; Filimonov, G.S. ; Kolachev, G.M. ; Minakov, G.D. ; Onuchin, A.P. ; Panin, V.S. ; Rodyakin, V.A. ; Telnov, V.I. ; Zhilich, V.N.

Elsevier B.V

Texto completo disponível