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A Modelisation of the temperature dependence of the Fowler–Nordheim current in EEPROM memories
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Artigo
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A Modelisation of the temperature dependence of the Fowler–Nordheim current in EEPROM memories

Roca, M. ; Laffont, R. ; Micolau, G. ; Lalande, F. ; Pizzuto, O.

Microelectronics and reliability, 2009-09, Vol.49 (9), p.1070-1073 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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2
Data retention under gate stress on a NVM array
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Artigo
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Data retention under gate stress on a NVM array

Djenadi, R. ; Micolau, G. ; Postel-Pellerin, J. ; Chiquet, P. ; Laffont, R. ; Ogier, J.-L. ; Regnier, A. ; Lalande, F. ; Melkonian, J.

Solid-state electronics, 2012-12, Vol.78, p.80-86 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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3
Leakage paths identification in NVM using biased data retention
Material Type:
Artigo
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Leakage paths identification in NVM using biased data retention

Postel-Pellerin, J. ; Laffont, R. ; Micolau, G. ; Lalande, F. ; Regnier, A. ; Bouteille, B.

Microelectronics and reliability, 2010-09, Vol.50 (9), p.1474-1478 [Periódico revisado por pares]

Kidlington: Elsevier Ltd

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4
New EEPROM concept for single bit operation
Material Type:
Artigo
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New EEPROM concept for single bit operation

Raguet, J.R. ; Laffont, R. ; Bouchakour, R. ; Bidal, V. ; Regnier, A. ; Mirabel, J.M.

Solid-state electronics, 2008-10, Vol.52 (10), p.1525-1529 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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5
An experimental method allowing quantifying and localizing failed cells of an EEPROM CAST after a retention test
Material Type:
Artigo
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An experimental method allowing quantifying and localizing failed cells of an EEPROM CAST after a retention test

Le Roux, C. ; Lopez, L. ; Firiti, A. ; Ogier, J.L. ; Lalande, F. ; Laffont, R. ; Micolau, G.

Solid-state electronics, 2008-10, Vol.52 (10), p.1550-1554 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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6
A new method to quantify retention-failed cells of an EEPROM CAST
Material Type:
Artigo
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A new method to quantify retention-failed cells of an EEPROM CAST

Le Roux, C. ; Lopez, L. ; Firiti, A. ; Ogier, J.L. ; Lalande, F. ; Laffont, R. ; Micolau, G.

Microelectronics and reliability, 2007-09, Vol.47 (9), p.1609-1613 [Periódico revisado por pares]

Oxford: Elsevier Ltd

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7
New Fowler Nordheim current determination in EEPROM cell from transient measurements
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Ata de Congresso
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New Fowler Nordheim current determination in EEPROM cell from transient measurements

Laffont, R. ; Masson, P. ; Canet, P. ; Delsuc, B. ; Bouchakour, R. ; Mirabel, J.M.

ESSDERC '03. 33rd Conference on European Solid-State Device Research, 2003, 2003, p.71-74

IEEE

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8
Temperature Resistant Fiber Bragg Gratings for On-Line and Structural Health Monitoring of the Next-Generation of Nuclear Reactors
Material Type:
Artigo
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Temperature Resistant Fiber Bragg Gratings for On-Line and Structural Health Monitoring of the Next-Generation of Nuclear Reactors

Laffont, Guillaume ; Cotillard, Romain ; Roussel, Nicolas ; Desmarchelier, Rudy ; Rougeault, Stéphane

Sensors (Basel, Switzerland), 2018-06, Vol.18 (6), p.1791 [Periódico revisado por pares]

Switzerland: MDPI AG

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9
Multiplexed regenerated fiber Bragg gratings for high-temperature measurement
Material Type:
Artigo
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Multiplexed regenerated fiber Bragg gratings for high-temperature measurement

Laffont, G ; Cotillard, R ; Ferdinand, P

Measurement science & technology, 2013-09, Vol.24 (9), p.94010-1-5 [Periódico revisado por pares]

IOP Publishing

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10
Integration of fiber Bragg grating temperature sensors in plasma facing components of the WEST tokamak
Material Type:
Artigo
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Integration of fiber Bragg grating temperature sensors in plasma facing components of the WEST tokamak

Corre, Y. ; Laffont, G. ; Pocheau, C. ; Cotillard, R. ; Gaspar, J. ; Roussel, N. ; Firdaouss, M. ; Gardarein, J.-L. ; Guilhem, D. ; Missirlian, M.

Review of scientific instruments, 2018-06, Vol.89 (6), p.063508-063508 [Periódico revisado por pares]

United States: American Institute of Physics

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