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On-Chip Fast Data Sparsification for a Monolithic 4096-Pixel Device
On-Chip Fast Data Sparsification for a Monolithic 4096-Pixel Device
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On-Chip Fast Data Sparsification for a Monolithic 4096-Pixel Device

Gabrielli, A. ; Batignani, G. ; Bettarini, S. ; Bosi, F. ; Calderini, G. ; Cenci, R. ; Dell'Orso, M. ; Forti, F. ; Giannetti, P. ; Giorgi, M.A. ; Lusiani, A. ; Marchiori, G. ; Morsani, F. ; Neri, N. ; Paoloni, E. ; Rizzo, G. ; Walsh, J. ; Andreoli, C. ; Gaioni, L. ; Pozzati, E. ; Ratti, L. ; Speziali, V. ; Manghisoni, M. ; Re, V. ; Traversi, G. ; Bomben, M. ; Bosisio, L. ; Giacomini, G. ; Lanceri, L. ; Rachevskaia, I. ; Vitale, L. ; Dalla Betta, G.F. ; Soncini, G. ; Fontana, G. ; Pancheri, L. ; Verzellesi, G. ; Gamba, D. ; Giraudo, G. ; Mereu, P. ; Di Sipio, R. ; Bruschi, M. ; Giacobbe, B. ; Giorgi, F. ; Semprini, N. ; Sbarra, C. ; Spighi, R. ; Valentinetti, S. ; Villa, M. ; Zoccoli, A.

IEEE transactions on nuclear science, 2009-06, Vol.56 (3), p.1159-1162 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Functional characterization of a high-gain BJT radiation detector
Functional characterization of a high-gain BJT radiation detector
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Functional characterization of a high-gain BJT radiation detector

Batignani, G. ; Bettarini, S. ; Bondioli, M. ; Boscardin, M. ; Bosisio, L. ; Betta, G.-F.D. ; Dittongo, S. ; Forti, F. ; Giacomini, G. ; Giorgi, M.A. ; Gregori, P. ; Piemonte, C. ; Rachevskaia, I. ; Ronchin, S. ; Zorzi, N.

IEEE transactions on nuclear science, 2005-10, Vol.52 (5), p.1882-1886 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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JFET front-end circuits integrated in a detector-grade silicon substrate
JFET front-end circuits integrated in a detector-grade silicon substrate
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JFET front-end circuits integrated in a detector-grade silicon substrate

Manghisoni, M. ; Ratti, L. ; Re, V. ; Speziali, V. ; Traversi, G. ; Betta, G.F.D. ; Boscardin, M. ; Batignani, G. ; Giorgi, M. ; Bosisio, L.

IEEE transactions on nuclear science, 2003-08, Vol.50 (4), p.942-947 [Periódico revisado por pares]

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A fabrication process for silicon microstrip detectors with integrated front-end electronics
A fabrication process for silicon microstrip detectors with integrated front-end electronics
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A fabrication process for silicon microstrip detectors with integrated front-end electronics

Betta, G.-F.D. ; Boscardin, M. ; Gregori, P. ; Zorzi, N. ; Pignatel, G.U. ; Batignani, G. ; Giorgi, M. ; Bosisio, L. ; Ratti, L. ; Speziali, V. ; Re, V.

IEEE transactions on nuclear science, 2002-06, Vol.49 (3), p.1022-1026 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Lessons learned from BaBar silicon vertex tracker, limits, and future perspectives of the detector
Lessons learned from BaBar silicon vertex tracker, limits, and future perspectives of the detector
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Lessons learned from BaBar silicon vertex tracker, limits, and future perspectives of the detector

Re, V. ; Kirkby, D. ; Bruinsma, M. ; Curry, S. ; Berryhill, J. ; Burke, S. ; Callahan, D. ; Campagnari, C. ; Dahmes, B. ; Hale, D. ; Hart, P. ; Kyre, S. ; Levy, S. ; Long, O. ; Mazur, M. ; Richman, J. ; Stoner, J. ; Verkerke, W. ; Beck, T. ; Eisner, A.M. ; Kroseberg, J. ; Lockman, W.S. ; Nesom, G. ; Seiden, A. ; Spradlin, P. ; Walkowiak, W. ; Wilson, M. ; Bozzi, C. ; Cibinetto, G. ; Piemontese, L. ; Snoek, H.L. ; Brown, D. ; Charles, E. ; Dardin, S. ; Goozen, F. ; Kerth, L.T. ; Gritsan, A. ; Lynch, G. ; Roe, N.A. ; Chen, C. ; Lae, C.K. ; Hulsbergen, W. ; Lillard, V. ; Roberts, D. ; Lazzaro, A. ; Palombo, F. ; Ratti, L. ; Manfredi, P.F. ; Mandelli, E. ; Angelini, C. ; Batignani, G. ; Bettarini, S. ; Bondioli, M. ; Bosi, F. ; Bucci, F. ; Calderini, G. ; Carpinelli, M. ; Ceccanti, M. ; Forti, F. ; Giorgi, M.A. ; Lusiani, A. ; Mammini, P. ; Marchiori, G. ; Morganti, M. ; Morsani, F. ; Neri, N. ; Paoloni, E. ; Profeti, A. ; Rama, M. ; Rizzo, G. ; Simi, G. ; Walsh, J. ; Elmer, P. ; Perazzo, A. ; Burchat, P. ; Edwards, A. ; Majewski, S. ; Petersen, B.A. ; Roat, C. ; Bona, M. ; Bianchi, F. ; Gamba, D. ; Trapani, P. ; Bosisio, L. ; Cartaro, C. ; Cossuti, F. ; Della Ricca, G. ; Dittongo, S. ; Grancagnolo, S. ; Lanceri, L. ; Vitale, L. ; Datta, M. ; Mihalyi, A.

IEEE transactions on nuclear science, 2005-06, Vol.52 (3), p.787-792 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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