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Rf preamplifier and converter for test and evaluation
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Rf preamplifier and converter for test and evaluation

AMERICAN ELECTRONIC LABS INC COLMAR PA.

Ft. Belvoir Defense Technical Information Center AUG 1962

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Self-tuned SAW-less GNSS receiver front end with blocker filtering and gain-irrelevant DC offset cancellation
Self-tuned SAW-less GNSS receiver front end with blocker filtering and gain-irrelevant DC offset cancellation
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Self-tuned SAW-less GNSS receiver front end with blocker filtering and gain-irrelevant DC offset cancellation

Yu, Xiaobao ; Song, Ying ; Wang, Zhihua ; Chi, Baoyong

Electronics letters, 2015-04, Vol.51 (8), p.653-654 [Periódico revisado por pares]

The Institution of Engineering and Technology

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High-Frequency PWM Buck Converters Using GaN-on-SiC HEMTs
High-Frequency PWM Buck Converters Using GaN-on-SiC HEMTs
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High-Frequency PWM Buck Converters Using GaN-on-SiC HEMTs

Rodriguez, Miguel ; Yuanzhe Zhang ; Maksimovic, Dragan

IEEE transactions on power electronics, 2014-05, Vol.29 (5), p.2462-2473 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Push-Pull Class \Phi } RF Power Amplifier
Push-Pull Class \Phi } RF Power Amplifier
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Push-Pull Class \Phi } RF Power Amplifier

Gu, Lei ; Zulauf, Grayson ; Zhang, Zhemin ; Chakraborty, Sombuddha ; Rivas-Davila, Juan

IEEE transactions on power electronics, 2020-10, Vol.35 (10), p.10515-10531 [Periódico revisado por pares]

IEEE

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GaN-Based RF Power Devices and Amplifiers
GaN-Based RF Power Devices and Amplifiers
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GaN-Based RF Power Devices and Amplifiers

Mishra, Umesh K. ; Shen, Likun ; Kazior, Thomas E. ; Wu, Yi-Feng

Proceedings of the IEEE, 2008-02, Vol.96 (2), p.287-305 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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Study on effect of back oxide thickness variation in FDSOI MOSFET on analogue circuit performance
Study on effect of back oxide thickness variation in FDSOI MOSFET on analogue circuit performance
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Study on effect of back oxide thickness variation in FDSOI MOSFET on analogue circuit performance

Mukherjee, Sagar ; Roy, Swarnil ; Dutta, Arka ; Sarkar, Chandan Kumar

IET circuits, devices & systems, 2016-11, Vol.10 (6), p.497-503 [Periódico revisado por pares]

Stevenage: The Institution of Engineering and Technology

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A Methodology for Realizing High Efficiency Class-J in a Linear and Broadband PA
A Methodology for Realizing High Efficiency Class-J in a Linear and Broadband PA
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A Methodology for Realizing High Efficiency Class-J in a Linear and Broadband PA

Wright, P. ; Lees, J. ; Benedikt, J. ; Tasker, P.J. ; Cripps, S.C.

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2009-12, Vol.57 (12), p.3196-3204 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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A Comparative Analysis of the Complexity/Accuracy Tradeoff in Power Amplifier Behavioral Models
A Comparative Analysis of the Complexity/Accuracy Tradeoff in Power Amplifier Behavioral Models
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A Comparative Analysis of the Complexity/Accuracy Tradeoff in Power Amplifier Behavioral Models

Tehrani, Ali Soltani ; Haiying Cao ; Afsardoost, Sepideh ; Eriksson, Thomas ; Isaksson, Magnus ; Fager, Christian

IEEE transactions on microwave theory and techniques, 2010-06, Vol.58 (6), p.1510-1520 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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On the Continuity of High Efficiency Modes in Linear RF Power Amplifiers
On the Continuity of High Efficiency Modes in Linear RF Power Amplifiers
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On the Continuity of High Efficiency Modes in Linear RF Power Amplifiers

Cripps, S.C. ; Tasker, P.J. ; Clarke, A.L. ; Lees, J. ; Benedikt, J.

IEEE microwave and wireless components letters, 2009-10, Vol.19 (10), p.665-667 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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A Generalized Memory Polynomial Model for Digital Predistortion of RF Power Amplifiers
A Generalized Memory Polynomial Model for Digital Predistortion of RF Power Amplifiers
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A Generalized Memory Polynomial Model for Digital Predistortion of RF Power Amplifiers

Morgan, D.R. ; Zhengxiang Ma ; Jaehyeong Kim ; Zierdt, M.G. ; Pastalan, J.

IEEE transactions on signal processing, 2006-10, Vol.54 (10), p.3852-3860 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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