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Flattening Gamma: Radiometric Terrain Correction for SAR Imagery
Flattening Gamma: Radiometric Terrain Correction for SAR Imagery
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Flattening Gamma: Radiometric Terrain Correction for SAR Imagery

Small, D.

IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2011-08, Vol.49 (8), p.3081-3093 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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2
Vacuum-Packaged Suspended Microchannel Resonant Mass Sensor for Biomolecular Detection
Vacuum-Packaged Suspended Microchannel Resonant Mass Sensor for Biomolecular Detection
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Vacuum-Packaged Suspended Microchannel Resonant Mass Sensor for Biomolecular Detection

Burg, T.P. ; Mirza, A.R. ; Milovic, N. ; Tsau, C.H. ; Popescu, G.A. ; Foster, J.S. ; Manalis, S.R.

Journal of microelectromechanical systems, 2006-12, Vol.15 (6), p.1466-1476 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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3
Segmentation-Based MAP Despeckling of SAR Images in the Undecimated Wavelet Domain
Segmentation-Based MAP Despeckling of SAR Images in the Undecimated Wavelet Domain
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Segmentation-Based MAP Despeckling of SAR Images in the Undecimated Wavelet Domain

Bianchi, T. ; Argenti, F. ; Alparone, L.

IEEE transactions on geoscience and remote sensing, 2008-09, Vol.46 (9), p.2728-2742 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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4
Pattern transfer on a vertical cavity sidewall using SU8
Pattern transfer on a vertical cavity sidewall using SU8
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Pattern transfer on a vertical cavity sidewall using SU8

Verhaar, T M ; Wei, J ; Sarro, P M

Journal of micromechanics and microengineering, 2009-07, Vol.19 (7), p.074018-074018 (6) [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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5
A Sensor Fusion-Based Framework for Floor Localization
A Sensor Fusion-Based Framework for Floor Localization
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A Sensor Fusion-Based Framework for Floor Localization

Haque, Fahimul ; Dehghanian, Vahid ; Fapojuwo, Abraham O. ; Nielsen, John

IEEE sensors journal, 2019-01, Vol.19 (2), p.623-631 [Periódico revisado por pares]

New York: IEEE

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6
Compensation Schemes for Transmitter- and Receiver-Based Pattern-Dependent Distortion
Compensation Schemes for Transmitter- and Receiver-Based Pattern-Dependent Distortion
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Compensation Schemes for Transmitter- and Receiver-Based Pattern-Dependent Distortion

Rezania, A. ; Cartledge, J. C. ; Bakhshali, A. ; Chan, W.-Y

IEEE photonics technology letters, 2016-11, Vol.28 (22), p.2641-2644

New York: IEEE

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7
An eight-channel add-drop filter using vertically coupled microring resonators over a cross grid
An eight-channel add-drop filter using vertically coupled microring resonators over a cross grid
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An eight-channel add-drop filter using vertically coupled microring resonators over a cross grid

Chu, S.T. ; Little, B.E. ; Pan, W. ; Kaneko, T. ; Sato, S. ; Kokubun, Y.

IEEE photonics technology letters, 1999-06, Vol.11 (6), p.691-693

IEEE

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8
Transversal Loading Sensor Based on Tunable Beat Frequency of a Dual-Wavelength Fiber Laser
Transversal Loading Sensor Based on Tunable Beat Frequency of a Dual-Wavelength Fiber Laser
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Transversal Loading Sensor Based on Tunable Beat Frequency of a Dual-Wavelength Fiber Laser

Hongyan Fu ; Xuewen Shu ; Chengbo Mou ; Lin Zhang ; Sailing He ; Bennion, I.

IEEE photonics technology letters, 2009-07, Vol.21 (14), p.987-989

New York: IEEE

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9
Multichannel add/drop filter based on in-plane hetero photonic Crystals
Multichannel add/drop filter based on in-plane hetero photonic Crystals
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Multichannel add/drop filter based on in-plane hetero photonic Crystals

Bong-Shik Song ; Asano, T. ; Akahane, Y. ; Tanaka, Y. ; Noda, S.

Journal of lightwave technology, 2005-03, Vol.23 (3), p.1449-1455 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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10
OTDM add-drop multiplexer based on XPM-induced wavelength shifting in highly nonlinear fiber
OTDM add-drop multiplexer based on XPM-induced wavelength shifting in highly nonlinear fiber
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OTDM add-drop multiplexer based on XPM-induced wavelength shifting in highly nonlinear fiber

Jie Li ; Olsson, B.-E. ; Karlsson, M. ; Andrekson, P.A.

Journal of lightwave technology, 2005-09, Vol.23 (9), p.2654-2661 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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