Result Number | Material Type | Add to My Shelf Action | Record Details and Options |
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Material Type: Tese de Doutorado
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Machine learning in complex networks: modeling, analysis, and applicationsSilva, Thiago ChristianoBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação 2012-12-13Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Complex network component unfolding using a particle competition techniqueUrio, Paulo RobertoBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação 2017-06-12Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Um modelo dinâmico de clusterização de dados aplicado na detecção de intrusãoFurukawa, Rogério AkiyoshiBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação 2003-04-25Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Desenvolvimento de modelos dinâmicos para a formação de clusters aplicados em dados biológicosDamiance Junior, Antonio Paulo GaldeanoBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação 2006-10-16Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Dissertação de Mestrado
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Clusterização de dados utilizando técnicas de redes complexas e computação bioinspiradaOliveira, Tatyana Bitencourt Soares DeBiblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Ciências Matemáticas e de Computação 2008-02-25Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos. |
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Material Type: Artigo
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Unsupervised Multiview Nonnegative Correlated Feature Learning for Data ClusteringLiang Zhao ; Zhikui Chen ; Wang, Z. JaneIEEE signal processing letters, 2018-01, Vol.25 (1), p.60-64 [Periódico revisado por pares]IEEETexto completo disponível |